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Gomi, Yuibi
1
Ergebnisse:
Personensuche
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?
1
Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs fo..:
, In:
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
,
Takami, Kazusa
;
Gomi, Yuibi
;
Abe, Shin-Ichiro
... - p. 1-6 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
