Heidmann, Nils
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TScan - Entwicklung eines Scanners zur vollständigen inlin.. 

Abschlussbericht : Berichtszeitraum: 01.01.2018-31.05.2021 
Heidmann, Nils , [2021?]
 
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Alterungsanalyse integrierter CMOS-Schaltungen für den Ein.. 

Forschungsberichte aus dem Institut für theoretische Elektrotechnik und Mikroelektronik, Arbeitsbereich Kommunikationselektronik, Universität Bremen ; Band 4
Exemplare: Zentrale;
 
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Neue Methoden zum Entwurf von SoCs für kontrollierbare hoh.. 

Schlussbericht ; Berichtszeitraum: 01. Mai 2011 bis 31. Jul... 
 
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Optimum Operating Points of Transistors with minimal Aging-..:

, In: Proceedings of the 28th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design,
 
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Verbundprojekt: Der intelligente Container - Vernetzte inte.. 

Schlussbericht ; Berichtszeitraum: 01. Juli 2010 bis 30. Ju... 
 
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Modeling of an analog recording system design for ECoG and ..:

, In: 2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE),
Heidmann, Nils ; Hellwege, Nico ; Hohlein, Tim... - p. 1-6 , 2014
 
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Modeling of an analog recording system design for ECoG and ..:

, In: Proceedings of the conference on Design, Automation & Test in Europe,
 
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Reliability analysis for integrated circuit amplifiers used..:

, In: Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe,
 
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