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Jelian, G.
3
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OpenAccess-Volltexte (1)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Evaluation of the electrical properties under extreme stres..:
Sidawi, J.
;
Abboud, N.
;
Jelian, G.
..
Microelectronics International. 28 (2011) 1 - p. 12-16 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1108/..
?
2
VDMOSFET Model Parameter Extraction Based on Electrical and..:
Salame, C. -T.
;
Rizk, C.
;
Jelian, G.
Active and Passive Electronic Components. 23 (2000) 4 - p. 185-195 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1155/..
?
3
VDMOSFET Model Parameter Extraction Based on Electrical and..:
C. -T. Salame
;
C. Rizk
;
G. Jelian
http://dx.doi.org/10.1155/APEC.23.185. , 2001
Link:
https://doi.org/10.1155/..
1-3