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Jelian, G.
3  Ergebnisse:
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Evaluation of the electrical properties under extreme stres..:

Sidawi, J. ; Abboud, N. ; Jelian, G...
Microelectronics International.  28 (2011)  1 - p. 12-16 , 2011
Link: https://doi.org/10.1108/..
 
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2

VDMOSFET Model Parameter Extraction Based on Electrical and..:

Salame, C. -T. ; Rizk, C. ; Jelian, G.
Active and Passive Electronic Components.  23 (2000)  4 - p. 185-195 , 2000
Link: https://doi.org/10.1155/..
 
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3

VDMOSFET Model Parameter Extraction Based on Electrical and..:

C. -T. Salame ; C. Rizk ; G. Jelian
http://dx.doi.org/10.1155/APEC.23.185.  , 2001
Link: https://doi.org/10.1155/..
 
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