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Kim, Iljeok
8
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Sortierung: Jahr
?
1
Deep Feature Selection Framework for Quality Prediction in ..:
Kim, Iljeok
;
Na, Juwon
;
Yun, Jong Pil
.
IEEE Transactions on Industrial Informatics. 20 (2024) 1 - p. 503-512 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
Single domain generalizable and physically interpretable be..:
Kim, Iljeok
;
Wook Kim, Sung
;
Kim, Jeongsan
...
Expert Systems with Applications. 241 (2024) - p. 122455 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Simulation-driven Bearing Fault Diagnosis for Condition Mon..:
Kim, Iljeok
;
Lee, Seungchul
PHM Society Asia-Pacific Conference. 4 (2023) 1 - p. , 2023
Link:
https://doi.org/10.36001..
?
4
Wafer map failure pattern classification using geometric tr..:
Jeong, Iljoo
;
Lee, Soo Young
;
Park, Keonhyeok
...
Scientific Reports. 13 (2023) 1 - p. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
5
Knowledge Integration into deep learning in dynamical syste..:
Kim, Sung Wook
;
Kim, Iljeok
;
Lee, Jonghwan
.
Journal of Mechanical Science and Technology. 35 (2021) 4 - p. 1331-1342 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
6
Modulation of saliva pattern and accurate detection of ovul..:
Lee, Eunji
;
Kim, Iljeok
;
Nam, Hyoryung
..
The Analyst. 145 (2020) 5 - p. 1716-1723 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1039/..
?
7
Wafer map failure pattern classification using geometric tr..:
Jeong, Iljoo
;
Lee, Soo Young
;
Park, Keonhyeok
...
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC10199043/. , 2023
Link:
http://www.ncbi.nlm.nih...
?
8
Wafer map failure pattern classification using geometric tr..:
Iljoo Jeong
;
Soo Young Lee
;
Keonhyeok Park
...
https://doi.org/10.1038/s41598-023-34147-2. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1038/..
1-8