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Kim, Soonkon
8
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Artikel (Online) (7)
OpenAccess-Volltexte (1)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Rapid ultrasensitive and specific BNP biosensor with LED re..:
So, Seth
;
Torres Quiñones, Jorge
;
Kim, Soonkon
..
Biomedical Microdevices. 26 (2024) 3 - p. , 2024
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
2
Degradation modeling with spatial mapping method in low tem..:
Kim, Kihwan
;
Song, Minjoon
;
Kim, Soonkon
...
Microelectronics Reliability. 116 (2021) - p. 114012 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Effect of PECVD Gate SiO2 Thickness on the Poly-Si/SiO2 Int..:
Park, Jungmin
;
Choi, Pyungho
;
Kim, Soonkon
...
Journal of Electrical Engineering & Technology. 16 (2021) 2 - p. 1027-1033 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
4
Improvement of negative bias temperature instability of LTP..:
Kim, Soonkon
;
Kim, Hyojung
;
Kim, Kihwan
..
Microelectronics Reliability. 116 (2021) - p. 113963 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
P‐8: Degradation Model of LTPS TFT Aged off‐State Bias Stre..:
Kim, Kihwan
;
Kim, Hyojung
;
Song, Minjun
...
SID Symposium Digest of Technical Papers. 51 (2020) 1 - p. 1338-1341 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
6
Gate leakage current reduction and improved reliability wit..:
Park, Jungmin
;
Choi, Pyungho
;
Kim, Soonkon
...
Thin Solid Films. 708 (2020) - p. 138102 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
7
Bias stress instability of LTPS TFTs on flexible substrate ..:
Kim, Soonkon
;
Kim, Hyojung
;
Kim, Kihwan
..
Microelectronics Reliability. 113 (2020) - p. 113940 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
8
Conduction band offset-dependent induced threshold voltage ..:
Hyojung Kim
;
Soonkon Kim
;
Jongmin Yoo
...
http://dx.doi.org/10.1063/5.0035379. , 2021
Link:
https://doi.org/10.1063/..
1-8