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Kodama, Tetsuji
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1
Analysis of spatial point patterns in electron-counting ima..:
Kodama, Tetsuji
;
Nakashima, Yusuke
;
Akashi, Tetsuya
...
Microscopy. 71 (2022) 3 - p. 142-151 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
2
Electron interference experiment with optically zero propag..:
Harada, Ken
;
Akashi, Tetsuya
;
Takahashi, Yoshio
...
Applied Physics Express. 14 (2021) 2 - p. 022006 , 2021
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
3
Double-Slit Electron Interference Experiment with Phase Mod..:
Harada, Ken
;
Takahashi, Yoshio
;
Akashi, Tetsuya
...
Microscopy and Microanalysis. 26 (2020) S2 - p. 2152-2153 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
4
Electron holography on Fraunhofer diffraction:
Harada, Ken
;
Niitsu, Kodai
;
Shimada, Keiko
...
Microscopy. 68 (2019) 3 - p. 254-260 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
5
Properties of electrostatic correcting systems with annular..:
Kodama, Tetsuji
;
Kawasaki, Tadahiro
;
Ikuta, Takashi
Microscopy. , 2019
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
6
Mechanism for correlation in a coherent electron beam:
Kodama, Tetsuji
;
Osakabe, Nobuyuki
Microscopy. 68 (2019) 2 - p. 133-143 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
7
Electron Holography on Fraunhofer Diffraction Using Double ..:
Harada, Ken
;
Niitsu, Kodai
;
Shimada, Keiko
...
Microscopy and Microanalysis. 25 (2019) S2 - p. 102-103 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
8
Double-Slit Electron Interference Experiment with Zero Prop..:
Harada, Ken
;
Kodama, Tetsuji
;
Akashi, Tetsuya
...
Microscopy and Microanalysis. 25 (2019) S2 - p. 944-945 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
9
Development of Compact Cs/Cc Corrector with Annular and Cir..:
Kawasaki, Tadahiro
;
Yoshida, Ryuji
;
Kato, Takeharu
...
Microscopy and Microanalysis. 23 (2017) S1 - p. 466-467 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
10
Development of electrostatic spherical aberration corrector..:
Kawasaki, Tadahiro
;
Ishida, Takafumi
;
Takai, Yasuyuki
...
Surface and Interface Analysis. 48 (2016) 11 - p. 1160-1165 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
11
Simple and Compact Electrostatic Cs-Corrector using Annular..:
Kawasaki, Tadahiro
;
Ishida, Takafumi
;
Kodama, Tetsuji
...
Microscopy and Microanalysis. 22 (2016) S3 - p. 338-339 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
12
STEM Phase Imaging by Annular Pixel Array Detector (A-PAD) ..:
Kawasaki, Tadahiro
;
Ishida, Takafumi
;
Kodama, Tetsuji
..
Microscopy and Microanalysis. 22 (2016) S3 - p. 480-481 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
13
Development of focused ion beam system attached to floating..:
Matsutani, Takaomi
;
Kawasaki, Tadahiro
;
Kodama, Tetsuji
...
Vacuum. 110 (2014) - p. 228-231 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
Phase reconstruction in annular bright-field scanning trans..:
Ishida, Takafumi
;
Kawasaki, Tadahiro
;
Tanji, Takayoshi
...
Microscopy. 64 (2014) 2 - p. 69-76 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
15
Two-electron interference in a coherent beam:
Kodama, Tetsuji
;
Osakabe, Nobuyuki
Microscopy. 62 (2013) suppl 1 - p. S119-S129 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1093/..
1-15