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Kuzin, A.Yu.
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1
Practical aspects of applying artificial intelligence in me..:
Kuzin, A. Yu.
;
Kroshkin, A. N.
;
Isaev, L. K.
..
Measurement Techniques. 66 (2023) 9 - p. 717-727 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
2
Compact Generator of an Optical Frequency Comb Based on Dis..:
Ruzhitskaya, D. D.
;
Vorob'ev, K. A.
;
Bulygin, F. V.
..
Journal of Experimental and Theoretical Physics. 136 (2023) 6 - p. 699-703 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
3
On-chip Photonic Crystal Cavity Integrated with Thermal Gra..:
, In:
2022 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS)
,
Kuzin, A.Yu.
;
Elmanov, I.A.
;
Elmanova, A.V.
... - p. 899-903 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
4
The System of Uniformity of Measurement Assurance Facing Di..:
Kuzin, A Yu
;
Yashin, A V
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 476 (2019) - p. 012018 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
5
A Genetic Approach for Auto-Tuning of Adaptive Fuzzy PID Co..:
Demidova, G.L.
;
Lukichev, D.V.
;
Kuzin, A.Yu.
Procedia Computer Science. 150 (2019) - p. 495-502 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Measurement of the Height of Nanorelief Elements by the Met..:
Darznek, S. A.
;
Karabanov, D. A.
;
Kuzin, A. Yu.
...
Measurement Techniques. 60 (2017) 3 - p. 220-225 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
7
Calibration of Scanning Electron Microscopes over a Wide Ra..:
Kirtaev, R. V.
;
Kuzin, A. Yu.
;
Maslov, V. G.
...
Measurement Techniques. 59 (2017) 12 - p. 1245-1249 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
8
Thermal Action of an Electronic Probe with X-ray Spectral N..:
Amrastanov, A. N.
;
Kuzin, A. Yu.
;
Mityukhlyaev, V. B.
...
Measurement Techniques. 60 (2017) 6 - p. 534-537 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
9
Thermal Effects During Low-Voltage Electron-Probe X-Ray Spe..:
Kuzin, A. Yu.
;
Stepovich, M. A.
;
Mityukhlyaev, V. B.
..
Measurement Techniques. 59 (2017) 10 - p. 1061-1064 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
10
Change in the Chemical Composition of an Analyzed Object Du..:
Kuzin, A. Yu.
;
Mityukhlyaev, V. B.
;
Todua, P. A.
.
Measurement Techniques. 59 (2017) 11 - p. 1234-1237 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
11
Analysis of Factors Affecting the Accuracy of Three-Dimensi..:
Kuzin, A. Yu.
;
Vasil'ev, A. L.
;
Mityukhlyaev, V. B.
...
Measurement Techniques. 59 (2016) 3 - p. 230-234 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
12
Experimental Study of Three-Dimensional Reconstruction of R..:
Kuzin, A. Yu.
;
Vasil'ev, A. L.
;
Karabanov, D. A.
...
Measurement Techniques. 59 (2016) 8 - p. 817-821 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
13
Measurement of Structural Parameters Based on X-Ray Emissio..:
Gavrilenko, V. P.
;
Zablotskii, A. V.
;
Korneichuk, S. A.
...
Measurement Techniques. 59 (2016) 2 - p. 198-201 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
14
Measurement of the Thickness Nonuniformity of Nanofilms Usi..:
Darznek, S. A.
;
Kuzin, A. Yu.
;
Mityukhlyaev, V. B.
...
Measurement Techniques. 59 (2016) 8 - p. 822-825 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
15
Electron Probe Measurements of Oxide Film Thickness on Sili..:
Gavrilenko, V. P.
;
Kuzin, A. Yu.
;
Mityukhlyaev, V. B.
...
Measurement Techniques. 58 (2015) 9 - p. 953-957 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1007/..
1-15