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Kwak, Nohong
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Precise Pattern Alignment for Die-to-Database Inspection Ba..:

Nam, Yunhyoung ; Joo, Sungho ; Kwak, Nohong..
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.  35 (2022)  3 - p. 532-539 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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Artificial Intelligent Fault Diagnostic Method for Power Tr..:

Kim, Yonghyun ; Park, Taesik ; Kim, Seonghwan..
Journal of Electrical Engineering & Technology.  14 (2019)  2 - p. 825-831 , 2019
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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