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Lashkov, Tsanko
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Influence of Structural Defects on the Polishing of Silicon..:

Bondokov, Robert T. ; Lashkov, Tsanko ; Sudarshan, Tangali S.
Japanese Journal of Applied Physics.  43 (2004)  1 - p. 43-49 , 2004
Link: https://doi.org/10.1143/..
 
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A Method for Defect Delineation in Silicon Carbide Using Po..:

Bondokov, Robert T. ; Khlebnikov, Igor I. ; Lashkov, Tsanko...
Japanese Journal of Applied Physics.  41 (2002)  Part 1, No. 12 - p. 7312-7316 , 2002
Link: https://doi.org/10.1143/..
 
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