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Lebrousse, J.
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A modular design and test approach for a family of VLSI MPU:

, In: 1987 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers,
Braune, D. ; Guerin, A. ; Lebrousse, J. - p. 90,91 , 1987
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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