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Leijtens, XJM Xaveer
368
Ergebnisse:
Personensuche
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Sprachen
englisch (367)
niederländisch (1)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Open standards for automation of testing of photonic integr..:
Latkowski, S Sylwester
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Yao, W Weiming
.
ISSN:0792-1233. , 2019
Link:
http://repository.tue.nl..
?
2
Increasing the speed of an InP-based integration platform b..:
Trajkovic, M Marija
;
Blache, Fabrice
;
Debregeas, Helene
..
ISSN:1077-260X. , 2019
Link:
http://repository.tue.nl..
?
3
Test methods and processes in manufacturing chain of photon..:
Latkowski, S Sylwester
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Yao, W Weiming
.. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
4
Method for polarization-resolved measurement of electroabso..:
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
;
Leijtens, XJM Xaveer
ISSN:1943-0655. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
5
Monolithically-integrated multi-wavelength laser with optic..:
Zhao, D Dan
;
Andreou, S Stefano
;
Yao, W Weiming
...
ISSN:1943-0655. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
6
Influence of termination load placement on electro-absorpti..:
Trajkovic, M Marija
;
Blache, Fabrice
;
Debregeas, Helene
.. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
7
Deep UV lithography process in generic InP integration for ..:
Ambrosius, HPMM Huub
;
Stabile, R Patty
;
Latkowski, S Sylwester
...
ISSN:1041-1135. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
8
A novel method for characterization of distributed Bragg re..:
Zhao, D Dan
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
.
ISSN:1943-0655. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
9
Low loss transmission lines in COBRA generic photonic integ..:
Trajkovic, M Marija
;
Blache, Fabrice
;
Debregeas, Helene
.. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
10
Method for polarization-resolved measurement of electroabso..:
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
;
Leijtens, XJM Xaveer
, 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
11
55GHz EAM bandwidth and beyond in InP active-passive photon..:
Trajkovic, M Marija
;
Blache, Fabrice
;
Debregeas, Helene
... , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
12
Fast and robust method for measuring semiconductor optical ..:
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
;
Leijtens, XJM Xaveer
ISSN:1077-260X. , 2018
Link:
http://repository.tue.nl..
?
13
Optical frequency domain reflectometry for characterization..:
Zhao, D Dan
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Augustin, LM Luc
.. , 2017
Link:
http://repository.tue.nl..
?
14
High resolution optical frequency domain reflectometry for ..:
Zhao, D Dan
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
. , 2017
Link:
http://repository.tue.nl..
?
15
High resolution optical frequency domain reflectometry for ..:
Zhao, D Dan
;
Pustakhod, D Dzmitry
;
Williams, KA Kevin
.
ISSN:1041-1135. , 2017
Link:
http://repository.tue.nl..
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