Ich stimme zu, dass diese Seite Cookies verwende. Weitere Informationen finden Sie unter unseren Datenschutzerklärungen .
X
Lopour, Filip
6  Ergebnisse:
Personensuche X
?
1

Novel field emission SEM column with beam deceleration tech..:

Jiruše, Jaroslav ; Havelka, Miloslav ; Lopour, Filip
Ultramicroscopy.  146 (2014)  - p. 27-32 , 2014
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
?
2

Future Prospects for Defect and Strain Analysis in the SEM ..:

Picard, Yoosuf N. ; Kamaladasa, Ranga ; De Graef, Marc...
Microscopy Today.  20 (2012)  2 - p. 12-16 , 2012
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
?
3

Computer Controlled Low Energy SEM:

Mika, Filip ; Ryšávka, Josef ; Lopour, Filip...
Microscopy and Microanalysis.  9 (2003)  S03 - p. 116-117 , 2003
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
?
4

Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM ; Possibilit..:

Matějka, František ; Matějková, Jiřina ; Lopour, Filip
https://kramerius.lib.cas.cz/view/uuid:37124eae-89e0-48e9-9fab-aff0cb46593e.  ,
Link: https://kramerius.lib.ca..
 
?
5

Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur ; App..:

Škoda, David ; Lopour, Filip, 1972- ; Kalousek, Radek, 1972-...
https://kramerius.lib.cas.cz/view/uuid:3c6b1a8d-58ad-4123-b4b7-4634585eeeef.  ,
Link: https://kramerius.lib.ca..
 
?
6

Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM ;..:

Kalousek, Radek, 1972- ; Škoda, David ; Lopour, Filip, 1972-...
https://kramerius.lib.cas.cz/view/uuid:d7561926-978c-45f5-940e-6801a0cde160.  ,
Link: https://kramerius.lib.ca..
 
1-6