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Loup, Virginie
51
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OpenAccess-Volltexte (28)
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?
1
Evaluation and Optimization of Particle Removal with a Resi..:
Mercadier, Thomas
;
Garnier, Philippe
;
Loup, Virginie
...
Solid State Phenomena. 346 (2023) - p. 268-274 , 2023
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
2
Selective Removal of Various Resilient Ionic and Halides-Ba..:
Audouin, Marine
;
Passelande, Anaïs
;
Garnier, Philippe
...
Solid State Phenomena. 346 (2023) - p. 356-362 , 2023
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
3
Plasma surface treatment of GeSn layers and its subsequent ..:
Coudurier, Nicolas
;
Quintero, Andrea
;
Loup, Virginie
...
Microelectronic Engineering. 257 (2022) - p. 111737 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Wet Alkaline Etching of Si Selectively to SiGe for sub 10 n..:
Rachidi, Sana
;
Loup, Virginie
;
Campo, Alain
..
ECS Journal of Solid State Science and Technology. 10 (2021) 1 - p. 014007 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
5
Selective epitaxial growth of AlGaAs/GaAs heterostructures ..:
Touraton, Marie-Leonor
;
Martin, Mickael
;
David, Sylvain
...
Thin Solid Films. 721 (2021) - p. 138541 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
(Keynote) Low Temperature SmartCutTM Process for 3D Integra..:
Schwarzenbach, Walter
;
Reboh, Shay
;
Ghorbel, Aymen
...
ECS Transactions. 97 (2020) 5 - p. 129-133 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
7
300 mm SiGe-On-Insulator Substrates with High Ge Content (7..:
Widiez, Julie
;
Veytizou, Christelle
;
Hartmann, Jean-Michel
...
ECS Transactions. 75 (2016) 8 - p. 79-88 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
8
(Invited) Evaluation of Stacked Nanowires Transistors for C..:
Gaben, Loïc
;
Barraud, Sylvain
;
Samson, Marie-Pierre
...
ECS Transactions. 72 (2016) 4 - p. 43-54 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
9
Chemical Treatments for Native Oxides Removal of GaAs Wafer:
Rebaud, Mickaël
;
Roure, Marie-Christine
;
Loup, Virginie
...
ECS Transactions. 69 (2015) 8 - p. 243-250 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
10
High Mobility Materials on Insulator for Advanced Technolog..:
Schwarzenbach, Walter
;
Figuet, Christophe
;
Delprat, Daniel
...
ECS Transactions. 66 (2015) 4 - p. 31-37 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
11
(Invited) SOI-Type Bonded Structures for Advanced Technolog..:
Widiez, Julie
;
Hartmann, Jean-Michel
;
Mazen, Frédéric
...
ECS Transactions. 64 (2014) 5 - p. 35-48 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
12
Si and SiGe Alloys Wet Etching Using TMAH Chemistry:
Loup, Virginie
;
Gabette, Laurence
;
Roure, Marie-Christine
...
ECS Transactions. 58 (2013) 6 - p. 47-55 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
13
Flatband Voltage Tuning of HfSiON-Based Gate Stacks: Impact..:
Boujamaa, Rachid
;
Baudot, Sylvain
;
Martinez, Eugénie
...
ECS Transactions. 35 (2011) 4 - p. 805-813 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
14
Interface Study in a "Metal / High-k" Gate Stack: Tantalum ..:
Gaumer, Clement
;
Martinez, Eugenie
;
Lhostis, Sandrine
...
ECS Transactions. 16 (2008) 5 - p. 99-110 , 2008
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
15
Nickel Selective Etching Studies for Self-Aligned Silicide ..:
Carron, Veronique
;
Ribeiro, Mathilde
;
Besson, Pascal
...
ECS Transactions. 3 (2006) 7 - p. 643-654 , 2006
Link:
https://doi.org/10.1149/..
1-15