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Lubenchenko, O
24
Ergebnisse:
Personensuche
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Format
Online (24)
Medientypen
Artikel (Online) (15)
OpenAccess-Volltexte (9)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Using the International Standard of Auditing 315 "Identifyi..:
LUBENCHENKO, O.
;
KORINKO, M.
Scientific Bulletin of the National Academy of Statistics, Accounting and Audit. , 2021
Link:
https://doi.org/10.31767..
?
2
Numerical Simulation of Photoelectric Emission from a Nano-..:
Lukiantsev, D. S.
;
Lubenchenko, A. V.
;
Ivanov, D. A.
...
Physics of Atomic Nuclei. 86 (2023) 10 - p. 2344-2351 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
3
New Standards of Quality Management in Audit. The Risk-Base..:
Lubenchenko, O. E.
;
Shulha, S. V.
;
Korinko, M. D.
Statistics of Ukraine. 96 (2022) 1 - p. 117-126 , 2022
Link:
https://doi.org/10.31767..
?
4
Controlled Ultra-Thin Suboxide Films Generation in Metal-Ox..:
Lubenchenko, A V
;
Lukyantsev, D S
;
Pavolotsky, A B
...
Journal of Physics: Conference Series. 1695 (2020) 1 - p. 012025 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
5
ThinFilmsAnalysisMPEI – Software for XPS Analysis of Multil..:
Lubenchenko, A V
;
Lubenchenko, O I
;
Ivanov, D A
.
Journal of Physics: Conference Series. 1683 (2020) 3 - p. 032014 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
6
Interface Layers of Niobium Nitride Thin Films:
Lubenchenko, A V
;
Iachuk, V A
;
Krause, S
...
Journal of Physics: Conference Series. 1410 (2019) 1 - p. 012124 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
7
Non-destructive chemical and phase layer profiling of multi..:
Lubenchenko, A V
;
Ivanov, D A
;
Lubenchenko, O I
...
Journal of Physics: Conference Series. 1370 (2019) 1 - p. 012048 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
8
Formation of inelastic scattered background photoelectrons,..:
Lubenchenko, A V
;
Ivanov, D A
;
Lubenchenko, O I
.
Journal of Physics: Conference Series. 1370 (2019) 1 - p. 012049 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
9
Міжнародні стандарти фінансової звітності та знецінення фін..:
Lubenchenko, O.E.
;
Pivniova, О. M.
Scientific Bulletin of the National Academy of Statistics, Accounting and Audit. , 2018
Link:
https://doi.org/10.31767..
?
10
Air-Oxidation of Nb Nano-Films:
Lubenchenko, A. V.
;
Batrakov, A. A.
;
Ivanov, D. A.
...
Semiconductors. 52 (2018) 5 - p. 678-682 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
11
XPS Study of Niobium and Niobium-Nitride Nanofilms:
Lubenchenko, A. V.
;
Batrakov, A. A.
;
Shurkaeva, I. V.
...
Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 12 (2018) 4 - p. 692-700 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
12
XPS Depth Profiling of Air-Oxidized Nanofilms of NbN on GaN..:
Lubenchenko, A.V.
;
Batrakov, A.A.
;
Krause, S.
...
Journal of Physics: Conference Series. 917 (2017) - p. 092001 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
13
Modern methods of transfer theory used for solution of sign..:
Afanas'ev, V.P.
;
Kaplya, P.S.
;
Lubenchenko, A.V.
.
Vacuum. 105 (2014) - p. 96-101 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
ROLE OF AUDIT IN MANAGING PUBLIC INTEREST ENTITIES ; РОЛЬ А..:
Lubenchenko, O
;
Riashchenko, V
;
Zivitere, M
.
http://fkd.org.ua/article/view/215473/215742. , 2020
Link:
http://fkd.org.ua/articl..
?
15
An XPS method for layer profiling of NbN thin films:
Lubenchenko A.V
;
Batrakov A.A
;
Pavolotsky A.B
...
http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201713203053. , 2017
Link:
https://doi.org/10.1051/..
1-15