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Merkus, Henk G.
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1
Sample Preparation: Error Source Number 1 in Particle Size ..:
Merkus, Henk G.
Particulate Science and Technology. 28 (2010) 5 - p. 394-403 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1080/..
?
2
Sampling Errors in Particle Size Analysis?:
Merkus, Henk G.
Particle & Particle Systems Characterization. 24 (2007) 1 - p. 34-39 , 2007
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
3
On-line Measurement of Particle Size and Shape using Laser ..:
Ma, Zhenhua
;
Merkus, Henk G.
;
van der Veen, Hilda G.
..
Particle & Particle Systems Characterization. 18 (2001) 5/6 - p. 243-247 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
4
Simulations and experiments on number fluctuations in photo..:
Nijman, Evelien J.
;
Merkus, Henk G.
;
Marijnissen, Jan C. M.
.
Applied Optics. 40 (2001) 24 - p. 4058 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
5
Extending laser diffraction for particle shape characteriza..:
Ma, Zhenhua
;
Merkus, Henk G.
;
Scarlett, Brian
Powder Technology. 118 (2001) 1-2 - p. 180-187 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Particle-size analysis by laser diffraction with a compleme..:
Ma, Zhenhua
;
Merkus, Henk G.
;
Scarlett, Brian
Applied Optics. 39 (2000) 25 - p. 4547 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
7
New developments in particle characterization by laser diff..:
Ma, Zhenhua
;
Merkus, Henk G
;
de Smet, Jan G.A.E
..
Powder Technology. 111 (2000) 1-2 - p. 66-78 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
8
Monitoring the Dynamics of Concentrated Suspensions by Enha..:
Spicer, Patrick T.
;
Pratsinis, Sotiris E.
;
Willemse, Alexander W.
..
Particle & Particle Systems Characterization. 16 (1999) 5 - p. 201-206 , 1999
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
9
Improving the Sensitivity of Forward Light Scattering Techn..:
Ma, Zhenhua
;
Merkus, Henk G.
;
de Smet, Jan G. A. E.
..
Particle & Particle Systems Characterization. 16 (1999) 2 - p. 71-76 , 1999
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
10
Proposals of a Procedure for Mass Recovery of Standard Mate..:
Bonferoni, M. Cristina
;
Ciocca, Cristina
;
Merkus, Henk G.
.
Particle & Particle Systems Characterization. 15 (1998) 4 - p. 174-179 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
11
Development of a Heterodyne Photon Correlation Spectroscopy..:
Willemse, Alexander W.
;
Merkus, Henk G.
;
Scarlett, Brian
Journal of Colloid and Interface Science. 204 (1998) 2 - p. 247-255 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1006/..
?
12
Low‐Concentration Photon Correlation Spectroscopy:
Willemse, Alexander W.
;
Marijnissen, Jan C. M.
;
van Wuyckhuyse, Arjan L.
...
Particle & Particle Systems Characterization. 14 (1997) 4 - p. 157-162 , 1997
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
13
Barium Sulfate Precipitation: Crystallization kinetics and ..:
van Drunen, Michiel A.
;
Merkus, Henk G.
;
Scarlett, Brian
.
Particle & Particle Systems Characterization. 13 (1996) 5 - p. 313-321 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
14
Photon correlation spectroscopy for analysis of low concent..:
Willemse, Alexander W
;
van Drunen, Michiel A
;
Tuinman, Ilse L
...
Journal of Aerosol Science. 26 (1995) - p. S31-S32 , 1995
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
15
21.O.05 Droplet size distribution measurements for medical ..:
Merkus, Henk G.
;
Marijnissen, Jan C.M.
;
Jansma, H.L.
.
Journal of Aerosol Science. 25 (1994) - p. 319-320 , 1994
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15
Mehr Literatur finden
Strahlungsmessung
Verfahrenstechnik