Ich stimme zu, dass diese Seite Cookies verwende. Weitere Informationen finden Sie unter unseren
Datenschutzerklärungen
.
X
Login
Merkliste (
0
)
Startseite
Über uns
Startseite Über uns
Neues aus der SuUB
Geschichte der SuUB
Bibliotheksprofil
Presseinformationen
Freundeskreis
Die Bibliothek in Zahlen
Ausstellungen
Projekte
Ausbildung, Praktika und Stellenangebote
Filme zur Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Service & Beratung
Startseite Service & Beratung
Ausleihe & Fernleihe
Rückgabe & Verlängerung
Schulungen & Führungen
Mein Bibliothekskonto
Bibliotheksausweis
Neu in der Bibliothek?
Informationsmaterialien, Formulare und Pläne zum Download
Öffnungszeiten
Lernort Bibliothek
PC, WLAN, Kopieren, Scannen, Drucken
Kataloge & Sammlungen
Startseite Kataloge & Sammlungen
Historische Sammlungen
Digitale Sammlungen
Fachinformationen
Standorte
Startseite Standorte
Zentrale
Juridicum
Bereichsbibliothek Wirtschaftswissenschaft
Bereichsbibliothek Physik / Elektrotechnik
Teilbibliothek Technik und Sozialwesen
Teilbibliothek Wirtschaft und Nautik
Teilbibliothek Musik
Teilbibliothek Kunst
Teilbibliothek Bremerhaven
Kontakt
Startseite Kontakt
Liste der Ansprechpartner
Open Access & Publizieren
Startseite Open Access & Publizieren
Literaturverwaltung
Literatur Publizieren
Open Access in Bremen
Toggle navigation
Muñoz-Gorriz, J.
50
Ergebnisse:
Personensuche
X
Format
Online (50)
Medientypen
Artikel (Online) (28)
OpenAccess-Volltexte (22)
Sprachen
spanisch (8)
englisch (37)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Application of artificial neural networks to the identifica..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Monaghan, S.
;
Cherkaoui, K.
...
Microelectronics Reliability. 126 (2021) - p. 114312 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Impact of the forming and cycling processes on the electric..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
González, M.B.
;
Miranda, E.
..
Thin Solid Films. 706 (2020) - p. 138027 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Analysis of the successive breakdown statistics of multilay..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Gonzalez, M.B.
;
Campabadal, F.
..
Microelectronics Reliability. 114 (2020) - p. 113748 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Detection of inhibitory effects in the generation of breakd..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Monaghan, S.
;
Cherkaoui, K.
...
Microelectronic Engineering. 215 (2019) - p. 111023 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Analysis and simulation of the multiple resistive switching..:
Petzold, S.
;
Miranda, E.
;
Sharath, S. U.
...
Journal of Applied Physics. 125 (2019) 23 - p. , 2019
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
6
Simple method for monitoring the switching activity in memr..:
Miranda, E.
;
Morell, A.
;
Muñoz-Gorriz, J.
.
Microelectronics Reliability. 100-101 (2019) - p. 113327 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
7
SPICE model for the current-voltage characteristic of resis..:
Miranda, E.
;
Muñoz-Gorriz, J.
;
Suñe, J.
.
Microelectronic Engineering. 215 (2019) - p. 110998 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
8
Characterization of the Failure Site Distribution in MIM De..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Monaghan, S.
;
Cherkaoui, K.
...
Journal of Electronic Materials. 47 (2018) 9 - p. 5033-5038 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
9
A new method for estimating the conductive filament tempera..:
Rodriguez-Fernandez, A.
;
Muñoz-Gorriz, J.
;
Suñé, J.
.
Microelectronics Reliability. 88-90 (2018) - p. 142-146 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Spatial analysis of failure sites in large area MIM capacit..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Monaghan, S.
;
Cherkaoui, K.
...
Microelectronic Engineering. 178 (2017) - p. 10-16 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Exploratory study and application of the angular wavelet an..:
Muñoz-Gorriz, J.
;
Monaghan, S.
;
Cherkaoui, K.
...
Journal of Applied Physics. 122 (2017) 21 - p. , 2017
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
12
Assessing the correlation between location and size of cata..:
Muñoz-Gorriz, J
;
Blachier, D
;
Reimbold, G
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2019
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
13
Effect of Resistive Switching Cycling on the Physical Chara..:
Muñoz-Gorriz, J
;
Acero Leal, María Cruz
;
González, M. B
..
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2018
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
14
Spatial analysis of failure sites in large area MIM capacit..:
Muñoz-Gorriz, J
;
Monaghan, Scott
;
Cherkaoui, Karim
...
info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020::RIA/654384/EU/Access to European Nanoelectronics Network/ASCENT. , 2017
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
15
Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for O..:
Porti i Pujal, Marc
;
Redon, Miquel
;
Muñoz Gorriz, Jordi
..
IEEE electron device letters. , 2023
Link:
https://ddd.uab.cat/reco..
1-15