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Nishizawa, Shin-ichi
559
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1
Study on stress in trench structures during silicon IGBTs p..:
Cai, Bozhou
;
Yuan, Jiuyang
;
Miyamura, Yoshiji
..
Japanese Journal of Applied Physics. 63 (2024) 3 - p. 03SP16 , 2024
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
2
Impact of p-Gate Contact in GaN-HEMTs on Overvoltage Stress..:
Saito, Wataru
;
NIshizawa, Shin-Ichi
IEEE Transactions on Electron Devices. 71 (2024) 6 - p. 3590-3595 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
3
Mechanism of gate voltage spike under digital gate control ..:
Lou, Zaiqi
;
Mamee, Thatree
;
Hata, Katsuhiro
...
Power Electronic Devices and Components. 7 (2024) - p. 100054 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Estimating of IGBT Bond Wire Lift-Off Trend Using Convoluti..:
Mamee, Thatree
;
Lou, Zaiqi
;
Hata, Katsuhiro
...
IEEE Access. 12 (2024) - p. 96936-96945 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
5
Turn-off switching voltage surge analysis with dependence o..:
Fujimoto, Yuri
;
Nishizawa, Shin-ichi
;
Saito, Wataru
Japanese Journal of Applied Physics. 63 (2024) 2 - p. 02SP36 , 2024
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
6
Numerical and experimental investigation of the effect of t..:
Suewaka, Ryota
;
Saishoji, Toshiaki
;
Nishizawa, Shin-ichi
Japanese Journal of Applied Physics. 63 (2024) 3 - p. 031006 , 2024
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
7
SiC Materials and Devices for Future Green Society:
, In:
2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
,
Nishizawa, Shin-Ichi
- p. 1-3 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
8
Paralleled SiC MOSFETs Circuit Breaker With a SiC MPS Diode..:
Takamori, Taro
;
Wada, Keiji
;
Saito, Wataru
.
IEEE Open Journal of Power Electronics. 5 (2024) - p. 392-401 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
9
Evaluation of thermally activated defects behaviors in nitr..:
Kajiwara, Kaoru
;
Eriguchi, Kazutaka
;
Fusegawa, Kazuhiro
...
Japanese Journal of Applied Physics. 62 (2023) 7 - p. 075504 , 2023
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
10
Effect of crucible thermal conductivity on dislocation dist..:
Miyazaki, Kazuma
;
Nakano, Satoshi
;
Nishizawa, Shin-ichi
.
Journal of Crystal Growth. 603 (2023) - p. 126981 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Reliability investigation of repeated unclamped inductive s..:
Takamori, Taro
;
Wada, Keiji
;
Saito, Wataru
.
Microelectronics Reliability. 150 (2023) - p. 115119 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
12
Numerical and experimental investigation of effect of oxyge..:
Suewaka, Ryota
;
Saishoji, Toshiaki
;
Nishizawa, Shin-ichi
Japanese Journal of Applied Physics. 62 (2023) 7 - p. 071002 , 2023
Link:
https://doi.org/10.35848..
?
13
Impact of Marangoni effect of oxygen on solid–liquid interf..:
Suewaka, Ryota
;
Nishizawa, Shin-ichi
Journal of Crystal Growth. 607 (2023) - p. 127123 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
The design considerations of stray inductance for power mod..:
Lou, Zaiqi
;
Mamee, Thatree
;
Hata, Katsuhiro
...
Power Electronic Devices and Components. 6 (2023) - p. 100047 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
15
IGBT Power Module Design for Suppressing Gate Voltage Spike..:
Lou, Zaiqi
;
Mamee, Thatree
;
Hata, Katsuhiro
...
IEEE Access. 11 (2023) - p. 6632-6640 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-15
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Laser. Optische Maser. Molekularverstärker.