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Niskanen, Kimmo
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?
1
Technology Dependence of Stuck Bits and Single-Event Upsets..:
Söderström, Daniel
;
Luza, Lucas Matana
;
de Mattos, André Martins Pio
...
IEEE Transactions on Nuclear Science. 70 (2023) 8 - p. 1861-1869 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
Failure Analysis of Atmospheric Neutron-Induced Single Even..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Niskanen, Kimmo
;
Michez, Alain
...
Materials Science Forum. 1062 (2022) - p. 544-548 , 2022
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
3
Comparison of the Total Ionizing Dose Sensitivity of a Syst..:
Rajkowski, Tomasz
;
Saigné, Frédéric
;
Niskanen, Kimmo
...
Electronics. 10 (2021) 11 - p. 1235 , 2021
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
4
Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: ..:
Coronetti, Andrea
;
Alia, Ruben Garcia
;
Budroweit, Jan
...
IEEE Transactions on Nuclear Science. 68 (2021) 5 - p. 958-969 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
5
SiC MOSFET micro-explosion due to a single event burnout: a..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Rogaume, Thomas
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.31399/asm.cp.istfa2023p0483. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
6
Technology Dependence of Stuck Bits and Single-Event Upsets..:
Söderström, Daniel
;
Luza, Lucas Matana
;
de Mattos, André Martins Pio
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TNS.2023.3295435. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
7
Technology Dependence of Stuck Bits and Single Event Upsets..:
Söderström, Daniel
;
Matana Luza, Lucas
;
Martins Pio De Mattos, André
...
IEEE Transactions on Nuclear Science. , 2023
Link:
http://urn.fi/URN:NBN:fi..
?
8
Technology Dependence of Stuck Bits and Single-Event Upsets..:
Söderström, Daniel
;
Luza, Lucas Matana
;
de Mattos, André Martins Pio
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TNS.2023.3295435. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
9
Proton Irradiation-Induced Reliability Degradation of SiC P..:
Niskanen, Kimmo
;
Kettunen, Heikki
;
Söderström, Daniel
...
IEEE Transactions on Nuclear Science. , 2023
Link:
http://urn.fi/URN:NBN:fi..
?
10
AFM-sMIM analysis of the recombination enhancing layer for ..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Niskanen, Kimmo
..
hal-04313957. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
11
Technology Dependence of Stuck Bits and Single-Event Upsets..:
Söderström, Daniel
;
Luza, Lucas Matana
;
de Mattos, André Martins Pio
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TNS.2023.3295435. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
12
AFM-sMIM analysis of the recombination enhancing layer for ..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Niskanen, Kimmo
..
hal-04313957. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
13
SiC MOSFET micro-explosion due to a single event burnout: a..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Rogaume, Thomas
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.31399/asm.cp.istfa2023p0483. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
14
AFM-sMIM analysis of the recombination enhancing layer for ..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Niskanen, Kimmo
..
hal-04313957. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
?
15
SiC MOSFET micro-explosion due to a single event burnout: a..:
Germanicus, Rosine Coq
;
Phulpin, Tanguy
;
Rogaume, Thomas
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.31399/asm.cp.istfa2023p0483. , 2023
Link:
https://hal.science/hal-..
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