Ich stimme zu, dass diese Seite Cookies verwende. Weitere Informationen finden Sie unter unseren
Datenschutzerklärungen
.
X
Login
Merkliste (
0
)
Startseite
Über uns
Startseite Über uns
Neues aus der SuUB
Geschichte der SuUB
Bibliotheksprofil
Presseinformationen
Freundeskreis
Die Bibliothek in Zahlen
Ausstellungen
Projekte
Ausbildung, Praktika und Stellenangebote
Filme zur Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Service & Beratung
Startseite Service & Beratung
Ausleihe & Fernleihe
Rückgabe & Verlängerung
Schulungen & Führungen
Mein Bibliothekskonto
Bibliotheksausweis
Neu in der Bibliothek?
Informationsmaterialien, Formulare und Pläne zum Download
Öffnungszeiten
Lernort Bibliothek
PC, WLAN, Kopieren, Scannen, Drucken
Kataloge & Sammlungen
Startseite Kataloge & Sammlungen
Historische Sammlungen
Digitale Sammlungen
Fachinformationen
Standorte
Startseite Standorte
Zentrale
Juridicum
Bereichsbibliothek Wirtschaftswissenschaft
Bereichsbibliothek Physik / Elektrotechnik
Teilbibliothek Technik und Sozialwesen
Teilbibliothek Wirtschaft und Nautik
Teilbibliothek Musik
Teilbibliothek Kunst
Teilbibliothek Bremerhaven
Kontakt
Startseite Kontakt
Liste der Ansprechpartner
Open Access & Publizieren
Startseite Open Access & Publizieren
Literaturverwaltung
Literatur Publizieren
Open Access in Bremen
Toggle navigation
Nogita, Kanta
4
Ergebnisse:
Personensuche
X
Format
Online (4)
Medientypen
Artikel (Online) (3)
Buchkapitel (Online) (1)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
High Density RDL Interconnection of Die to Die using Chip-F..:
, In:
2023 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)
,
Han, YoungGun
;
Kanayama, Taka
;
Mitsutomi, Hisamitsu
.. - p. 61-62 , 2023
Link:
https://doi.org/10.23919..
?
2
Development of High Reliability Process for Fine Cu Wiring ..:
Kanayama, Taka
;
Sueyoshi, Haruki
;
Nogita, Kanta
.
Transactions of The Japan Institute of Electronics Packaging. 13 (2020) 0 - p. E20-005-1-E20-005-3 , 2020
Link:
https://doi.org/10.5104/..
?
3
Comparison of metal oxide removal using hydrogen radicals g..:
Nogita, Kanta
;
Kamatani, Ryosuke
;
Tayumoto, Satoru
.
Thin Solid Films. 575 (2015) - p. 107-109 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Evaluation of Residual Stress and Warpage of Device Embedde..:
Han, Younggun
;
Horiuchi, Osamu
;
Hayashi, Shigehiro
...
Transactions of The Japan Institute of Electronics Packaging. 8 (2015) 1 - p. 81-94 , 2015
Link:
https://doi.org/10.5104/..
1-4