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Patidar, Ankita
2  Ergebnisse:
Personensuche X
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Scan Design Using Unsupervised Machine Learning to Reduce F..:

, In: 2024 IEEE European Test Symposium (ETS),
Goel, Sandeep Kumar ; Patidar, Ankita ; Lee, Frank - p. 1-4 , 2024
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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2

A Case Study on IEEE 1838 Compliant Multi-Die 3DIC DFT Impl..:

, In: 2023 IEEE International Test Conference (ITC),
Chandra, Anshuman ; Khan, Moiz ; Patidar, Ankita... - p. 11-20 , 2023
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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