E-LIB Suche - Ergebnisse für: Rosenkranz, Christian

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Ingenieurskunst im Experiment: die Multihalle Mannheim:

Stahl, Jochen ; Rosenkranz, Christian
Bautechnik. 100 (2023) S2 - p. 85-92 , 2023

2

Governance in Familienunternehmen: Das Fallbeispiel TRUMPF:

Wulf, Torsten ; Rosenkranz, Christian ; Reiter, Berit
WiSt - Wirtschaftswissenschaftliches Studium. 46 (2017) 4 - p. 55-62 , 2017

Link: https://doi.org/10.15358..

3

Führung von Familienunternehmen: Das Fallbeispiel TRUMPF:

Rosenkranz, Christian ; Wulf, Torsten ; Reiter, Berit
WiSt - Wirtschaftswissenschaftliches Studium. 46 (2017) 2-3 - p. 59-66 , 2017

Link: https://doi.org/10.15358..

4

Behavioral Integration as a Relational Governance Mechanism..:

Rosenkranz, Christian ; Wulf, Torsten
Journal of Small Business Management. 57 (2017) 3 - p. 801-819 , 2017

Link: https://doi.org/10.1111/..

5

Battery systems for the growing and diversified hybrid elec..:

, In: Neue elektrische Antriebskonzepte für Hybridfahrzeuge / Heinz Schäfer (Hrsg.) und 73 Mitautoren

Rosenkranz, Christian A. ; Köhler, Uwe ; Liska, Jean-Louis. (2007) - p. 308-324

Exemplar: TB BHV: ver 60/31

6

The iron/electrolyte interface at extremely large current d..:

Lohrengel, Manuel M. ; Rosenkranz, Christian ; Rohrbeck, Daniel
Microchimica Acta. 156 (2006) 1-2 - p. 163-166 , 2006

Link: https://doi.org/10.1007/..

7

Functional Testing and Characterisation of ISFETs on Wafer ..:

Poghossian, Arshak ; Schumacher, Kerstin ; Kloock, JoachimP....
Sensors. 6 (2006) 4 - p. 397-404 , 2006

Link: https://doi.org/10.3390/..

8

Elektrochemische Prozesse an Eisenoberflächen bei extremen..:

, 2005

Link: http://d-nb.info/9751180..

9

Functional testing and characterisation of ISFETs on wafer ..:

Poghossian, Arshak (Prof. Dr. rer. nat.) ; Schumacher, Kerstin ; Kloock, Joachim P. (Dipl.-Ing.)...
https://opus.bibliothek.fh-aachen.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/104. , 2006

Link: https://opus.bibliothek...

10

Functional Testing and Characterisation of ISFETs on Wafer ..:

Poghossian, Arshak ; Schumacher, Kerstin ; Kloock, Joachim P...
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3872360. , 2006

Link: http://www.ncbi.nlm.nih...

11

Zur oszillierenden Elektrodenkinetik an der Fest-fest-Phase..:

Rosenkranz, Christian
urn:nbn:de:gbv:089-2431582892. , 1997

Link: https://www.repo.uni-han..

12

Functional Testing and Characterisation of ISFETs on Wafer ..:

Michael J. Schöning ; Mattea Müller-Veggian ; Joachim W. Schultze...
http://www.mdpi.com/1424-8220/6/4/397/. , 2006

Link: https://doi.org/10.3390/..

13

Functional Testing and Characterisation of ISFETs on Wafer ..:

Arshak Poghossian ; Kerstin Schumacher ; Joachim P. Kloock...
https://dx.doi.org/10.3390/s6040397. , 2006

Link: https://doi.org/10.3390/..

14

Application of REVEAL Lite 2 and COMPERA 2.0 risk scores to..:

Benza, Raymond L. ; Simonneau, Gérald ; Ghofrani, Hossein-Ardeschir...
The Journal of Heart and Lung Transplantation. , 2024

Link: https://doi.org/10.1016/..

15

Vacuum tribology of multi-layer Ti3C2Tand Ti3C2T /MoS2 hybr..:

Boidi, Guido ; Zambrano, Dario F. ; Jogl, Christian...
Applied Materials Today. 38 (2024) - p. 102180 , 2024

Link: https://doi.org/10.1016/..