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Rouchier, Séverin
6
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OpenAccess-Volltexte (2)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Evaluation of Crystal Quality and Dopant Activation of Smar..:
Gelineau, Guillaume
;
Widiez, Julie
;
Rolland, Emmanuel
...
Materials Science Forum. 1089 (2023) - p. 71-79 , 2023
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
2
High Sensitivity Surface Defect Inspection of SiC and Smart..:
Cela, Enrica
;
Shahidi, Sam
;
Parangi, Prasant
...
Defect and Diffusion Forum. 425 (2023) - p. 57-61 , 2023
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
3
Proven Power Cycling Reliability of Ohmic Annealing Free Si..:
Guiot, Eric
;
Allibert, Frédéric
;
Leib, Jürgen
...
Materials Science Forum. 1092 (2023) - p. 201-207 , 2023
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
4
150 mm SiC Engineered Substrates for High-Voltage Power Dev..:
Rouchier, Séverin
;
Gaudin, Gweltaz
;
Widiez, Julie
...
Materials Science Forum. 1062 (2022) - p. 131-135 , 2022
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
5
Evaluation of crystal quality and dopant activation of Smar..:
Gelineau, Guillaume
;
Widiez, Julie
;
Rolland, Emmanuel
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.4028/p-026sj4. , 2023
Link:
https://cea.hal.science/..
?
6
Proven Power Cycling Reliability of Ohmic Annealing Free Si..:
Guiot, Eric
;
Allibert, Frédéric
;
Leib, Jürgen
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2023
Link:
https://publica.fraunhof..
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