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Sri Ram Koduri, Pavan
1
Ergebnisse:
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1
Secured Test Pattern Generators for BIST:
, In:
2021 5th International Conference on Computing Methodologies and Communication (ICCMC)
,
Shanmukha Naga Naidu, P.
;
Naga Sumanth, B.
;
Sri Ram Koduri, Pavan
... - p. 542-546 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
