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Suvanam, Sethu Saveda
22
Ergebnisse:
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Online (22)
Medientypen
Artikel (Online) (15)
OpenAccess-Volltexte (7)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Antimony‐Doped Tin Oxide as Transparent Back Contact in Cu2..:
Englund, Sven
;
Kubart, Tomas
;
Keller, Jan
...
physica status solidi (a). 216 (2019) 22 - p. , 2019
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
2
Extreme radiation hard thin film CZTSSe solar cell:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Larsen, Jes
;
Ross, Nils
...
Solar Energy Materials and Solar Cells. 185 (2018) - p. 16-20 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Radiation Hardness for Silicon Oxide and Aluminum Oxide on ..:
Hallén, Anders
;
Suvanam, Sethu Saveda
Materials Science Forum. 924 (2018) - p. 229-232 , 2018
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
4
Improving the quality of Al2O3/4H-SiC interface for device ..:
Usman, Muhammad
;
Suvanam, Sethu Saveda
;
Linnarsson, M.K.
.
Materials Science in Semiconductor Processing. 81 (2018) - p. 118-121 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Improved interface and electrical properties of atomic laye..:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Usman, Muhammed
;
Martin, David
...
Applied Surface Science. 433 (2018) - p. 108-115 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Influence of annealing environment on the ALD-Al2O3/4H-SiC ..:
Usman, Muhammad
;
Arshad, Muhammad
;
Suvanam, Sethu Saveda
.
Journal of Physics D: Applied Physics. 51 (2018) 10 - p. 105111 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
7
Impact of H‐Uptake from Forming Gas Annealing and Ion Impla..:
Chulapakorn, Thawatchart
;
Primetzhofer, Daniel
;
Sychugov, Ilya
...
physica status solidi (a). 215 (2017) 3 - p. , 2017
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
8
Total Dose Effects on 4H-SiC Bipolar Junction Transistors:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Lanni, Luigia
;
Malm, B. Gunnar
..
Materials Science Forum. 897 (2017) - p. 579-582 , 2017
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
9
Bipolar integrated circuits in SiC for extreme environment ..:
Zetterling, Carl-Mikael
;
Hallén, Anders
;
Hedayati, Raheleh
...
Semiconductor Science and Technology. 32 (2017) 3 - p. 034002 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
10
Alkali Metal Re-Distribution after Oxidation of 4H-SiC:
Linnarsson, Margareta K.
;
Suvanam, Sethu Saveda
;
Vines, Lasse
.
Materials Science Forum. 858 (2016) - p. 677-680 , 2016
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
11
Interface Analysis of P-Type 4H-SiC/Al2O3 Using Synchrotron..:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Yazdi, Milad Ghadami
;
Usman, Muhammad
..
Materials Science Forum. 858 (2016) - p. 693-696 , 2016
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
12
Stoichiometry of the ALD-Al2O3/4H–SiC interface by synchrot..:
Usman, Muhammad
;
Suvanam, Sethu Saveda
;
Yazdi, Milad Ghadami
...
Journal of Physics D: Applied Physics. 49 (2016) 25 - p. 255308 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
13
Tailoring the Interface between Dielectric and 4H-SiC by Io..:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Martin, David M.
;
Zetterling, Carl-Mikael
.
Materials Science Forum. 821-823 (2015) - p. 488-491 , 2015
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
14
Characterization of LaxHfyO Gate Dielectrics in 4H-SiC MOS ..:
Xia, Jing Hua
;
Martin, David M.
;
Suvanam, Sethu Saveda
..
Materials Science Forum. 778-780 (2014) - p. 549-552 , 2014
Link:
https://doi.org/10.4028/..
?
15
A Comparison of Free Carrier Absorption and Capacitance Vol..:
Suvanam, Sethu Saveda
;
Usman, M.
;
Gulbinas, K.
..
Materials Science Forum. 740-742 (2013) - p. 465-468 , 2013
Link:
https://doi.org/10.4028/..
1-15