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Sytaf, Petr
3  Ergebnisse:
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1

Detection Systems of Ultra-High-Resolution SEMs:

Jiruse, Jaroslav ; Havelka, Miloslav ; Polster, Jan...
Microscopy and Microanalysis.  24 (2018)  S1 - p. 606-607 , 2018
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
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2

A Detection System with Controlled Surface Sensitivity for ..:

Sytaf, Petr ; Jiruse, Jaroslav ; Paral, Jan
Microscopy and Microanalysis.  23 (2017)  S1 - p. 24-25 , 2017
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
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3

A New SEM Column Combining Ultra-High Resolution and Flexib..:

Sytaf, Petr ; Jiruse, Jaroslav ; Zavodny, Adam
Microscopy and Microanalysis.  23 (2017)  S1 - p. 38-39 , 2017
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
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