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Sze, Jhy-Jyi
6
Ergebnisse:
Personensuche
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Format
Online (6)
Medientypen
Artikel (Online) (2)
OpenAccess-Volltexte (4)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
A 45 nm Stacked CMOS Image Sensor Process Technology for Su..:
Takahashi, Seiji
;
Huang, Yi-Min
;
Sze, Jhy-Jyi
...
Sensors. 17 (2017) 12 - p. 2816 , 2017
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
2
Effects of Vacancies on the Electrical Characteristics of M..:
Jyi-Jhy Sze, Jyi-Jhy Sze
;
Huang-Chung Cheng, Huang-Chung Cheng
Japanese Journal of Applied Physics. 33 (1994) 9R - p. 4863 , 1994
Link:
https://doi.org/10.1143/..
?
3
A 45 nm Stacked CMOS Image Sensor Process Technology for Su..:
Takahashi, Seiji
;
Huang, Yi-Min
;
Sze, Jhy-Jyi
...
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5751557/. , 2017
Link:
http://www.ncbi.nlm.nih...
?
4
A 45 nm Stacked CMOS Image Sensor Process Technology for Su..:
Seiji Takahashi
;
Yi-Min Huang
;
Jhy-Jyi Sze
...
https://dx.doi.org/10.3390/s17122816. , 2017
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
5
A 45 nm Stacked CMOS Image Sensor Process Technology for Su..:
Seiji Takahashi
;
Yi-Min Huang
;
Jhy-Jyi Sze
...
https://www.mdpi.com/1424-8220/17/12/2816. , 2017
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
6
Extraction and Estimation of Pinned Photodiode Capacitance ..:
Calvin Yi-Ping Chao
;
Yi-Che Chen
;
Kuo-Yu Chou
...
https://ieeexplore.ieee.org/document/6799991/. , 2014
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-6