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TAMMINGA, A.Y.
175
Ergebnisse:
Personensuche
X
Format
Online (175)
Medientypen
Artikel (Online) (99)
OpenAccess-Volltexte (76)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
The microstructure of petroleum vacuum residue films for bi..:
SOURTY, E.D.
;
TAMMINGA, A.Y.
;
MICHELS, M.A.J.
..
Journal of Microscopy. 241 (2011) 2 - p. 132-146 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1111/..
?
2
Groups III and V impurity solubilities in silicon due to la..:
Duffy, R.
;
Dao, T.
;
Tamminga, Y.
...
Applied Physics Letters. 89 (2006) 7 - p. , 2006
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
3
Boron diffusion in amorphous silicon:
Venezia, V.C.
;
Duffy, R.
;
Pelaz, L.
...
Materials Science and Engineering: B. 124-125 (2005) - p. 245-248 , 2005
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Influence of the anneal conditions on arsenic activation du..:
Pawlak, B. J.
;
Duffy, R.
;
Janssens, T.
...
Applied Physics Letters. 87 (2005) 3 - p. , 2005
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
5
Low-temperature diffusion of high-concentration phosphorus ..:
Duffy, R.
;
Venezia, V. C.
;
Loo, J.
...
Applied Physics Letters. 86 (2005) 8 - p. , 2005
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
6
Boron diffusion in amorphous silicon and the role of fluori..:
Duffy, R.
;
Venezia, V. C.
;
Heringa, A.
...
Applied Physics Letters. 84 (2004) 21 - p. 4283-4285 , 2004
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
7
Critical review of the current status of thickness measurem..:
Seah, M. P.
;
Spencer, S. J.
;
Bensebaa, F.
...
Surface and Interface Analysis. 36 (2004) 9 - p. 1269-1303 , 2004
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
8
Effects of crystalline regrowth on dopant profiles in pream..:
Hopstaken, M.J.P.
;
Tamminga, Y.
;
Verheijen, M.A.
...
Applied Surface Science. 231-232 (2004) - p. 688-692 , 2004
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
A surface science model for the Phillips ethylene polymeriz..:
VANKIMMENADE, E
;
KUIPER, A
;
TAMMINGA, Y
..
Journal of Catalysis. 223 (2004) 1 - p. 134-141 , 2004
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Quantitative depth profiling of SiOxNy layers on Si:
van Berkum, J.G.M.
;
Hopstaken, M.J.P.
;
Snijders, J.H.M.
..
Applied Surface Science. 203-204 (2003) - p. 414-417 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Improved interface stability of phase-change recording medi:
Kuiper, A. E. T.
;
van Schijndel, M.
;
Tamminga, Y.
Applied Physics Letters. 82 (2003) 9 - p. 1383-1385 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
12
Plasma oxidation of thin aluminum layers for magnetic spin-..:
Kuiper, A. E. T.
;
Gillies, M. F.
;
Kottler, V.
...
Journal of Applied Physics. 89 (2001) 3 - p. 1965-1972 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
13
Physically trapped oxygen in sputter-deposited MoO3 films:
Vink, T. J.
;
Verbeek, R. G. F. A.
;
Snijders, J. H. M.
.
Journal of Applied Physics. 87 (2000) 10 - p. 7252-7254 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
14
Interactions of thin oxide films with a low-pressure mercur..:
Hildenbrand, V.D
;
Denissen, C.J.M
;
Geerdinck, L.M
...
Thin Solid Films. 371 (2000) 1-2 - p. 295-302 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
15
Lithium trapping at excess oxygen in sputter-deposited a-WO..:
Vink, T. J.
;
Boonekamp, E. P.
;
Verbeek, R. G. F. A.
.
Journal of Applied Physics. 85 (1999) 3 - p. 1540-1544 , 1999
Link:
https://doi.org/10.1063/..
1-15