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Talneau, A.
170
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Online (170)
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Artikel (Online) (81)
Buchkapitel (Online) (4)
OpenAccess-Volltexte (85)
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Sortierung: Jahr
?
1
Plastic behaviour and deformation mechanisms in silicon nan..:
Texier, M
;
Merabet, A
;
Tromas, C
...
Journal of Physics: Conference Series. 1190 (2019) 1 - p. 012004 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
2
Tailored Coupling Coefficient within Sub-Wavelength Nanostr..:
, In:
2019 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC)
,
Talneau, A.
;
Hentinger, F.
;
Belabas, N.
- p. 1-1 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
3
Low-temperature intrinsic plasticity in silicon at small sc..:
Merabet, A.
;
Texier, M.
;
Tromas, C.
...
Acta Materialia. 161 (2018) - p. 54-60 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
High structural and optical quality of III-V-on-Si 1.2 nm-t..:
Talneau, A.
;
Beaudoin, G.
;
Alamarguy, D.
.
Microelectronic Engineering. 192 (2018) - p. 25-29 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
An ultra-thin SiO2 ALD layer for void-free bonding of III–V..:
Talneau, A.
;
Pantzas, K.
;
Durnez, A.
...
Microelectronic Engineering. 162 (2016) - p. 40-44 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Biperiodic nanostructured waveguides for wavelength-selecti..:
Talneau, A.
;
Pommarède, X.
;
Itawi, A.
...
Optics Letters. 40 (2015) 22 - p. 5148 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
7
Nondestructive three-dimensional imaging of crystal strain ..:
Pateras, A. I.
;
Allain, M.
;
Godard, P.
...
Physical Review B. 92 (2015) 20 - p. , 2015
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
8
Tomographic diffractive microscopy with agile illuminations..:
Zhang, T.
;
Godavarthi, C.
;
Chaumet, P. C.
...
Optics Letters. 40 (2015) 4 - p. 573 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
9
Strain in a silicon-on-insulator nanostructure revealed by ..:
Chamard, V.
;
Allain, M.
;
Godard, P.
...
Scientific Reports. 5 (2015) 1 - p. , 2015
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
10
Full-polarized Tomographic Diffraction Microscopy Achieves ..:
Zhang, T.
;
Ruan, Y.
;
Maire, G.
...
Physical Review Letters. 111 (2013) 24 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
11
Atomic-plane-thick reconstruction across the interface duri..:
Talneau, A.
;
Roblin, C.
;
Itawi, A.
...
Applied Physics Letters. 102 (2013) 21 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
12
Nanometric Resolution with Far-Field Optical Profilometry:
Arhab, S.
;
Soriano, G.
;
Ruan, Y.
...
Physical Review Letters. 111 (2013) 5 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
13
X-ray lensless microscopy from undersampled diffraction int..:
Berenguer, F.
;
Godard, P.
;
Allain, M.
...
Physical Review B. 88 (2013) 14 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
14
Far-Field Optical Control of a Movable Subdiffraction Light..:
Girard, J.
;
Scherrer, G.
;
Cattoni, A.
...
Physical Review Letters. 109 (2012) 18 - p. , 2012
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
15
Extremely thin planarized grating for sub-diffraction (<100..:
Cattoni, A.
;
Talneau, A.
;
Haghiri-Gosnet, A.M.
..
Microelectronic Engineering. 97 (2012) - p. 154-156 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15