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Taur, Yuan
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1
Modeling of Electrostatics and Currents in a Forward-Biased..:
Lin, Kuan-Wun
;
Taur, Yuan
IEEE Transactions on Electron Devices. , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
A non-GCA model for ground-plane MOSFETs:
Su, Meihua
;
Hong, Chuyang
;
Taur, Yuan
Solid-State Electronics. 209 (2023) - p. 108754 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
On the Log-Linear Inversion-Charge Relation for MOSFET Mode..:
Taur, Yuan
IEEE Transactions on Electron Devices. 69 (2022) 1 - p. 427-429 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
4
Effects of BOX thickness, silicon thickness, and backgate b..:
Su, Elizabeth Mei-hua
;
Hong, David Chuyang
;
Cristoloveanu, Sorin
.
Microelectronic Engineering. 238 (2021) - p. 111506 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Non-GCA modeling of near threshold I-V characteristics of D..:
Ren, Zhongjie
;
Taur, Yuan
Solid-State Electronics. 166 (2020) - p. 107766 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Engineering High-k/SiGe Interface with ALD Oxide for Select..:
Kavrik, Mahmut S.
;
Ercius, Peter
;
Cheung, Joanna
...
ACS Applied Materials & Interfaces. 11 (2019) 16 - p. 15111-15121 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
7
Understanding the Mechanism of Electronic Defect Suppressio..:
Kavrik, Mahmut Sami
;
Bostwick, Aaron
;
Rotenberg, Eli
...
Journal of the American Chemical Society. 142 (2019) 1 - p. 134-145 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
8
Ultralow Defect Density at Sub-0.5 nm HfO2/SiGe Interfaces ..:
Kavrik, Mahmut S.
;
Thomson, Emily
;
Chagarov, Evgueni
...
ACS Applied Materials & Interfaces. 10 (2018) 36 - p. 30794-30802 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
9
Insight into carrier lifetime impact on band-modulation dev..:
Parihar, Mukta Singh
;
Lee, Kyung Hwa
;
Park, Hyung Jin
...
Solid-State Electronics. 143 (2018) - p. 41-48 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
A comprehensive model on field-effect pnpn devices (Z 2 -FE..:
Taur, Yuan
;
Lacord, Joris
;
Parihar, Mukta Singh
...
Solid-State Electronics. 134 (2017) - p. 1-8 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Characterization of interface defects in ALD Al 2 O 3 /p-Ga..:
Gu, Siyuan
;
Min, Jie
;
Taur, Yuan
.
Solid-State Electronics. 118 (2016) - p. 18-25 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
12
Diameter-Independent Hole Mobility in Ge/Si Core/Shell Nano..:
Nguyen, Binh-Minh
;
Taur, Yuan
;
Picraux, S. Tom
.
Nano Letters. 14 (2014) 2 - p. 585-591 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
13
Invited talk: CMOS device scaling — Past, present, and futu..:
, In:
2014 IEEE Workshop On Microelectronics And Electron Devices (WMED)
,
Taur, Yuan
- p. 1-1 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
14
Determination of energy and spatial distribution of oxide b..:
Dou, Chunmeng
;
Lin, Dennis
;
Vais, Abhitosh
...
Microelectronics Reliability. 54 (2014) 4 - p. 746-754 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
15
Re-examination of the extraction of MOS interface-state den..:
Chen, Han-Ping
;
Yuan, Yu
;
Yu, Bo
...
Semiconductor Science and Technology. 28 (2013) 8 - p. 085008 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1088/..
1-15
Mehr Literatur finden
Großintegration. LSI