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1
Electronic defect study on low temperature processed Cu(In,..:
Van Puyvelde, L
;
Lauwaert, J
;
Tempez, A
...
Journal of Physics D: Applied Physics. 48 (2015) 17 - p. 175104 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
2
Passivation behaviour of 304 stainless steel in an ionic li..:
Molchan, I.S.
;
Thompson, G.E.
;
Walton, J.
...
Applied Surface Science. 357 (2015) - p. 37-44 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Chemical analysis of Cd1−xZnxS/CdTe solar cells by plasma p..:
Kartopu, G.
;
Tempez, A.
;
Clayton, A. J.
...
Materials Research Innovations. 18 (2014) 2 - p. 82-85 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1179/..
?
4
P2IMS depth profile analysis of high temperature boron oxyn..:
Badi, N.
;
Vijayaraghavan, S.
;
Benqaoula, A.
...
Applied Surface Science. 292 (2014) - p. 1-4 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Depth-profile analysis of thermoelectric layers on Si wafer..:
Reinsberg, K.-G.
;
Schumacher, C.
;
Tempez, A.
..
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. 76 (2012) - p. 175-180 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Physico-chemical processes occurring during polymerization ..:
Groza, A.
;
Surmeian, A.
;
Diplasu, C.
...
Surface and Coatings Technology. 212 (2012) - p. 145-151 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
7
18O distributions in porous anodic alumina by plasma profil..:
Baron Wiecheć, A.
;
Tempez, A.
;
Skeldon, P.
..
Surface and Interface Analysis. 44 (2012) 10 - p. 1346-1352 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
8
A purged argon pre-chamber for analytical glow discharge—ti..:
Lobo, L.
;
Bordel, N.
;
Pereiro, R.
...
J. Anal. At. Spectrom.. 26 (2011) 4 - p. 798-803 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1039/..
?
9
Depth profiling analysis of barrier‐type anodic aluminium o..:
Trigoulet, N.
;
Tuccitto, N.
;
Delfanti, I.
...
Surface and Interface Analysis. 43 (2011) 1-2 - p. 183-186 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
10
Quantitative depth profile analysis of boron implanted sili..:
Pisonero, J.
;
Lobo, L.
;
Bordel, N.
...
Solar Energy Materials and Solar Cells. 94 (2010) 8 - p. 1352-1357 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Differentiation of 18O‐ and 16O‐rich layers in anodic alumi..:
Molchan, I. S.
;
Thompson, G. E.
;
Skeldon, P.
...
Surface and Interface Analysis. 42 (2010) 4 - p. 211-214 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
12
Analysis of thin impurity doped layers in anodic alumina an..:
Molchan, I. S.
;
Thompson, G. E.
;
Skeldon, P.
...
Transactions of the IMF. 88 (2010) 3 - p. 154-157 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1179/..
?
13
Surface topography effects on glow discharge depth profilin..:
Trigoulet, N.
;
Hashimoto, T.
;
Molchan, I. S.
...
Surface and Interface Analysis. 42 (2010) 4 - p. 328-333 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
14
Direct chemical in-depth profile analysis and thickness qua..:
Valledor, R.
;
Pisonero, J.
;
Bordel, N.
...
Analytical and Bioanalytical Chemistry. 396 (2010) 8 - p. 2881-2887 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
15
Polymer screening by radiofrequency glow discharge time-of-..:
Lobo, L.
;
Tuccitto, N.
;
Bordel, N.
...
Analytical and Bioanalytical Chemistry. 396 (2010) 8 - p. 2863-2869 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1007/..
1-15