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1
Early failure of high-power white LEDs for outdoor applicat..:
Caria, A.
;
Fraccaroli, R.
;
Pierobon, G.
...
Microelectronics Reliability. 150 (2023) - p. 115142 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Comparison between Cu(In,Ga)Se2 solar cells with different ..:
Bertoncello, M.
;
Barbato, M.
;
Caria, A.
...
Microelectronics Reliability. 138 (2022) - p. 114612 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Review on the degradation of GaN-based lateral power transi..:
De Santi, C.
;
Buffolo, M.
;
Rossetto, I.
...
e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy. 1 (2021) - p. 100018 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Current induced degradation study on state of the art DUV L..:
Trivellin, N.
;
Monti, D.
;
De Santi, C.
...
Microelectronics Reliability. 88-90 (2018) - p. 868-872 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Thermally-activated degradation of InGaN-based laser diodes..:
De Santi, C.
;
Meneghini, M.
;
Marioli, M.
...
Microelectronics Reliability. 54 (2014) 9-10 - p. 2147-2150 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
ESD on GaN-based LEDs: An analysis based on dynamic electro..:
Dal Lago, M.
;
Meneghini, M.
;
De Santi, C.
...
Microelectronics Reliability. 54 (2014) 9-10 - p. 2138-2141 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
7
Recoverable degradation of blue InGaN-based light emitting ..:
De Santi, C.
;
Meneghini, M.
;
Trivellin, N.
...
Applied Physics Letters. 105 (2014) 21 - p. , 2014
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
8
Degradation of InGaN/GaN laser diodes investigated by micro..:
Meneghini, M.
;
Carraro, S.
;
Meneghesso, G.
...
Applied Physics Letters. 103 (2013) 23 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
9
"Hot-plugging" of LED modules: Electrical characterization ..:
Dal Lago, M.
;
Meneghini, M.
;
Trivellin, N.
...
Microelectronics Reliability. 53 (2013) 9-11 - p. 1524-1528 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Variations in junction capacitance and doping activation as..:
de Santi, C.
;
Meneghini, M.
;
Carraro, S.
...
Microelectronics Reliability. 53 (2013) 9-11 - p. 1534-1537 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Phosphors for LED-based light sources: Thermal properties a..:
Dal Lago, M.
;
Meneghini, M.
;
Trivellin, N.
...
Microelectronics Reliability. 52 (2012) 9-10 - p. 2164-2167 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
12
Reliability issues in GaN-based light-emitting diodes: Effe..:
Meneghini, M.
;
Dal Lago, M.
;
Rodighiero, L.
...
Microelectronics Reliability. 52 (2012) 8 - p. 1621-1626 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
13
Degradation mechanisms of high-power white LEDs activated b..:
Dal Lago, M.
;
Meneghini, M.
;
Trivellin, N.
..
Microelectronics Reliability. 51 (2011) 9-11 - p. 1742-1746 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
Degradation of InGaN lasers: Role of non-radiative recombin..:
Trivellin, N.
;
Meneghini, M.
;
De Santi, C.
...
Microelectronics Reliability. 51 (2011) 9-11 - p. 1747-1751 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
15
Investigation of the deep level involved in InGaN laser deg..:
Meneghini, M.
;
de Santi, C.
;
Trivellin, N.
...
Applied Physics Letters. 99 (2011) 9 - p. , 2011
Link:
https://doi.org/10.1063/..
1-15