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Vandervorst, F.
65
Ergebnisse:
Personensuche
X
Format
Online (65)
Medientypen
Artikel (Online) (48)
OpenAccess-Volltexte (17)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Randomized phase II study of axitinib versus physicians bes..:
Duerinck, J.
;
Du Four, S.
;
Vandervorst, F.
...
Journal of Neuro-Oncology. 128 (2016) 1 - p. 147-155 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
2
Global Impact of the COVID-19 Pandemic on Cerebral Venous T..:
Nguyen, T.N
;
Qureshi, M.M
;
Klein, P
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.5853/jos.2022.00752. , 2022
Link:
https://serval.unil.ch/n..
?
3
Medication-overuse headache: a widely recognized entity ami..:
Vandenbussche, N
;
Laterza, D
;
Lisicki Martinez, Marco
...
urn:issn:1129-2369. , 2018
Link:
https://orbi.uliege.be/h..
?
4
Electrical Contact Formation in Micro Four‐Point Probe Meas..:
Folkersma, Steven
;
Bogdanowicz, Janusz
;
Petersen, Dirch H.
...
physica status solidi (a). 217 (2019) 5 - p. , 2019
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
5
Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: ..:
Barnes, J.P.
;
Grenier, A.
;
Mouton, I.
...
Scripta Materialia. 148 (2018) - p. 91-97 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Laser-Induced Periodic Surface Structures (LIPSS) on Heavil..:
Sartori, André F.
;
Orlando, Stefano
;
Bellucci, Alessandro
...
ACS Applied Materials & Interfaces. 10 (2018) 49 - p. 43236-43251 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
7
Electrical characterization of single nanometer-wide Si fin..:
Folkersma, Steven
;
Bogdanowicz, Janusz
;
Schulze, Andreas
...
Beilstein Journal of Nanotechnology. 9 (2018) - p. 1863-1867 , 2018
Link:
https://doi.org/10.3762/..
?
8
Atom probe tomography analysis of SiGe fins embedded in SiO..:
Melkonyan, D.
;
Fleischmann, C.
;
Arnoldi, L.
...
Ultramicroscopy. 179 (2017) - p. 100-107 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
X-ray absorption in pillar shaped transmission electron mic..:
Bender, H.
;
Seidel, F.
;
Favia, P.
..
Ultramicroscopy. 177 (2017) - p. 58-68 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Width‐Dependent Sheet Resistance of Nanometer‐Wide Si Fins ..:
Bogdanowicz, Janusz
;
Folkersma, Steven
;
Sergeant, Stefanie
...
physica status solidi (a). 215 (2017) 6 - p. , 2017
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
11
Thermal stability and relaxation mechanisms in compressivel..:
Fleischmann, C.
;
Lieten, R. R.
;
Hermann, P.
...
Journal of Applied Physics. 120 (2016) 8 - p. , 2016
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
12
Amorphous inclusions during Ge and GeSn epitaxial growth vi..:
Gencarelli, F.
;
Shimura, Y.
;
Kumar, A.
...
Thin Solid Films. 590 (2015) - p. 163-169 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
13
Field Effect and Strongly Localized Carriers in the Metal-I..:
Martens, K.
;
Jeong, J. W.
;
Aetukuri, N.
...
Physical Review Letters. 115 (2015) 19 - p. , 2015
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
14
Extended X-ray absorption fine structure investigation of S..:
Gencarelli, F.
;
Grandjean, D.
;
Shimura, Y.
...
Journal of Applied Physics. 117 (2015) 9 - p. , 2015
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
15
On the interplay between relaxation, defect formation, and ..:
Kumar, A.
;
Demeulemeester, J.
;
Bogdanowicz, J.
...
Journal of Applied Physics. 118 (2015) 2 - p. , 2015
Link:
https://doi.org/10.1063/..
1-15