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Vuttivorakulchai, K.
2  Ergebnisse:
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Theoretical Limit of TiSi2 Contact Resistance : *Note: Sub-..:

, In: 2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD),
Jeong, M. Y. ; Pourghaderi, M. A. ; Vuttivorakulchai, K.... - p. 105-108 , 2023
Link: https://doi.org/10.23919..
 
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Effect of stacking faults and surface roughness on the ther..:

Vuttivorakulchai, K. ; Luisier, M. ; Schenk, A.
Journal of Applied Physics.  124 (2018)  20 - p. , 2018
Link: https://doi.org/10.1063/..
 
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