Wiedmer, Andreas
92  Ergebnisse:
Personensuche X
?
1

High-speed Optical Detection of Chipping Defects in a Die B..:

, In: 2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC),
 
?
3

All Side Optical Chipping Inspection of Dice in a Die Attac..:

, In: 2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC),
 
?
7

Werte: Controlling und Unternehmenskultur:

, In: Controlling in Gesundheitseinrichtungen als handlungsorientierter Ansatz / Julia Oswald, Uwe Bettig (Hrsg.)
Riehl, Anneke ; Wiedmer, Andreas. (2019)  - p. 268-274
Exemplar:  Zentrale:E02 a vwl 296.7/616
 
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