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?
2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) ,
1
High-speed Optical Detection of Chipping Defects in a Die B..:
, In:
?
2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) ,
3
All Side Optical Chipping Inspection of Dice in a Die Attac..:
, In:
?
Controlling in Gesundheitseinrichtungen als handlungsorientierter Ansatz / Julia Oswald, Uwe Bettig (Hrsg.)
7
Werte: Controlling und Unternehmenskultur:
, In:Exemplar:
Zentrale:E02 a vwl 296.7/616