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Yang, Yeongheon
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1
Reliability Improvement in Vertical NAND Flash Cells Using ..:
Park, Sung-Ho
;
Yoo, Ho-Nam
;
Yang, Yeongheon
..
IEEE Transactions on Electron Devices. 71 (2024) 3 - p. 1834-1838 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
On-Chip Learning in Vertical NAND Flash Memory Using Forwar..:
Park, Sung-Ho
;
Ko, Jonghyun
;
Lee, In-Seok
...
IEEE Transactions on Electron Devices. 71 (2024) 6 - p. 3640-3644 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
3
Accurate SPICE Model for Cells With Tube-Type Poly-Si Chann..:
Hwang, Joon
;
Yoo, Ho-Nam
;
Lee, Kyu-Ho
...
IEEE Transactions on Electron Devices. 70 (2023) 10 - p. 5469-5474 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
4
In‐Memory‐Computed Low‐Frequency Noise Spectroscopy for Sel..:
Shin, Wonjun
;
Kim, Jaehyeon
;
Jung, Gyuweon
...
Advanced Science. 10 (2023) 7 - p. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
5
Voltage scheme for string-select transistors to improve inh..:
Park, Sung-Ho
;
Yoo, Ho-Nam
;
Yang, Yeongheon
...
Applied Physics Letters. 123 (2023) 14 - p. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
6
Retention Improvement in Vertical NAND Flash Memory Using 1..:
, In:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM)
,
Park, Sung-Ho
;
Kwon, Dongseok
;
Yoo, Ho-Nam
... - p. 5.5.1-5.5.4 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
7
In‐Memory‐Computed Low‐Frequency Noise Spectroscopy for Sel..:
Wonjun Shin
;
Jaehyeon Kim
;
Gyuweon Jung
...
https://doi.org/10.1002/advs.202205725. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1002/..
1-7