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id_orcid:0 000-0002-2495-8550
71
Ergebnisse:
Personensuche
X
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Electrically active defects induced by thermal oxidation an..:
Kumar, Piyush
;
Bathen, Marianne
;
id_orcid:0 000-0002-6269-3530
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/5.0205965. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
2
Radiation-Induced Effects in SiC Vertical Power MOSFETs Irr..:
Bonaldo, Stefano
;
Martinella, Corinna
;
Race, Salvatore
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TNS.2024.3366190. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
3
Impact of carbon injection in 4H-SiC on defect formation an..:
Bathen, Marianne
;
id_orcid:0 000-0002-6269-3530
;
Karsthof, Robert
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.mssp.2024.108316. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
4
Al-implantation induced damage in 4H-SiC:
Kumar, Piyush
;
Martins, Maria Inês Mendes
;
Prokscha, Thomas
..
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.mssp.2024.108241. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
5
Accelerated Evaluation of Quasi-Static Interaction Integral..:
Romano, Daniele
;
Kovacevic-Badstuebner, Ivana
;
id_orcid:0 000-0001-6960-2470
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TEMC.2024.3366985. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
6
Aluminum channeling in 4H-SiC by high-energy implantation a..:
Belanche Guadas, Manuel
;
id_orcid:0 000-0002-1101-9554
;
Yonezawa, Yoshiyuki
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.mssp.2024.108461. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
7
Dual configuration of shallow acceptor levels in 4H-SiC:
Bathen, Marianne
;
id_orcid:0 000-0002-6269-3530
;
Kumar, Piyush
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.mssp.2024.108360. , 2024
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
8
Heavy-Ion-Induced Defects in Degraded SiC Power MOSFETs:
Martinella, Corinna
;
Bathen, Marianne
;
id_orcid:0 000-0002-6269-3530
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.4028/p-3y3lv4. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
9
Temperature Dependence of the Channel and Drift Resistance ..:
Stark, Roger
;
Tsibizov, Alexander
;
Race, Salvatore
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.4028/p-06b54k. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
10
DC-DC converters for the CMS MTD BTL and ECAL for HL-LHC:
Gadek, Tomasz
;
Dissertori, Günther
;
Grossner, Ulrike
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1088/1748-0221/18/02/C02038. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
11
Defect Profiling of Oxide-Semiconductor Interfaces Using Lo..:
Mendes Martins, Maria
;
Kumar, Piyush
;
Woerle, Judith
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1002/admi.202300209. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
12
Investigation of Electrically Active Defects in SiC Power D..:
Für, Natalija
;
Belanche Guadas, Manuel
;
id_orcid:0 000-0002-1101-9554
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TNS.2023.3242760. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
13
Mapping the impact of defect distributions in silicon carbi..:
Dorfer, Christian
;
Bathen, Marianne
;
id_orcid:0 000-0002-6269-3530
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/5.0142217. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
14
Energy-Dependent Impact of Proton Irradiation on 4H-SiC Sch..:
Kumar, Piyush
;
Belanche Guadas, Manuel
;
id_orcid:0 000-0002-1101-9554
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.4028/p-0y444y. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
?
15
Small-Signal Impedance and Split CV Characterization of Hig..:
Race, Salvatore
;
Kovacevic-Badstuebner, Ivana
;
id_orcid:0 000-0001-6960-2470
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.4028/p-2388hx. , 2023
Link:
https://hdl.handle.net/2..
1-15