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98  Ergebnisse:
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1

Entwicklung eines Messsystems für Feldmessungen in Windene.. 

Fortschritt-Berichte VDI, Reihe 21, Elektrotechnik ; Nr. 421;Berichte des Instituts für elektrische Antriebe, Leistungselektronik und Bauelemente der Universität Bremen
Holzke, Wilfried - Als Manuskript gedruckt . , [2020]
Exemplare: Zentrale;
 
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2

Extrinsische und intrinsische Beeinflussungen des Verhalten.. 

Fortschritt-Berichte VDI, Reihe 21: Elektrotechnik ; Nr. 419
Bödeker, Christian - Als Manuskript gedruckt . , [2019]
Exemplare: Zentrale;
 
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3

Noise coupling in system-on-chip 

Devices, circuits, and systems
Noulis, Thomas , [2018]
Link: https://doi.org/10.1201/..
 
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4

Miniature fluidic devices for rapid biological detection 

Integrated Analytical Systems
Brolo, Alexandre G. ; Escobedo, Carlos ; Oh, Sang-Hyun , 2018
Link: http://search.ebscohost...
 
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5

Understanding jitter and phase noise 

a circuits and systems perspective 
Da Dalt, Nicola ; Sheikholeslami, Ali , [2018]
Link: https://doi.org/10.1017/..
 
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6

Dependable multicore architectures at nanoscale:

Ottavi, Marco ; Gizopoulos, Dimitris ; Pontarelli, Salvatore - 1. Auflage . , [2018]
Link: http://suub-bremen.ciand..
 
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7

Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit d..:

Lienig, Jens ; Thiele, Matthias , [2018]
Exemplar:  Zentrale:E02 a elt 607 e/586
 
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8

Modeling and design of electromagnetic compatibility for hi..:

Wei, Xing-Chang , [2017]
Link: https://doi.org/10.1201/..
 
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9

Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM C..:

Duganapalli, Kishore , 2016
Link: http://nbn-resolving.de/..
 
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10

Automobil-Sensorik 

Ausgewählte Sensorprinzipien und deren automobile Anwendun  SpringerLink, Bücher
Tille, Thomas , 2016
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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11

Optimization of yield and reliability using enhanced worst-.. 

Berichte aus der Elektrotechnik
Vudathu, Shyam Praveen , 2016
Exemplare: Zentrale;
 
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12

Alterungsanalyse integrierter CMOS-Schaltungen für den Ein.. 

Forschungsberichte aus dem Institut für theoretische Elektrotechnik und Mikroelektronik, Arbeitsbereich Kommunikationselektronik, Universität Bremen ; Band 4
Heidmann, Nils , 2016
Exemplare: Zentrale;
 
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13

Crosstalk in modern On-Chip Interconnects 

a FDTD approach  SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Kaushik, B.K. ; Kumar, V. Ramesh ; Patnaik, Amalendu , [2016]
Link: http://suub-bremen.ciand..
 
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14

Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM C..:

Duganapalli, Kishore , 2016
Exemplar:  Zentrale: ts 2950
 
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15

Semiconductor devices in harsh conditions 

Devices, circuits, and systems ; v.63
Chrzanowska-Jeske, Malgorzata ; Weide-Zaage, Kirsten , 2016
Link: https://doi.org/10.1201/..
 
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