Remaki, B.
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Nouvelle méthode de profilométrie capacitive des porteurs l..:

Remaki, B ; Balland, B
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1051/rphysap:0198700220110138100.  , 1987
 
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2

DÉFAUTS INDUITS DANS Si PAR IMPLANTATION DIRECTE OU A TRAVE..:

Balland, B ; Remaki, B ; Pinard, P.
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1051/jphyscol:1983548.  , 1983
 
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