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Lehrbuch der theoretischen Physik / von L. D. Landau; E. M. Lifschitz. In dt. Sprache hrsg. von Gerhard Heber ,
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Theorie des kondensierten Zustandes:
Statistische PhysikTeil 2:
, In: , In:Copies:
Zentrale:Magazinturm-E02 15h phy 050 eb/369(4)a-9; Zentrale:E02 a phy 050 eb/369(4)-9
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Measurement
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Nanomeasuring and nanopositioning engineering:
, In:Copies:
Zentrale: z ing 110 j/479; Zentrale:Magazin Zs fe 8260
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Technisches Messen
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The metrological basis and operation of nanopositioning and..:
, In:Copies: Zentrale;
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Technisches Messen
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Neue Anwendungen der Nanomessmaschine (NPM-Maschine) durch ..:
, In:Copies: Zentrale;
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Süßwasserfauna von Mitteleuropa / begr. von A. Brauer. Hrsg. von J. Schwoerbel ... ,
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Chelicerata:
Araneae, Acari / [stellvertretender Hrsg. für Bd. 7: R. Ge..:
, In: , In:Copies:
Zentrale:Magazin 02.s.3811
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Mechanical engineering from macro to nano / Technische Universität Ilmenau, Faculty of Mechanical Engineering. [Hrsg.: Peter Scharff]
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Beitrag zur Entwicklung nanoskaliger Kalibriersysteme:
, In:Copies:
Zentrale:Magazin 01.r.4949
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Technisches Messen
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Interferometrischer Sensor und interferometrisches Kalibrie..:
, In:Copies: Zentrale;
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Mechanical engineering from macro to nano / Technische Universität Ilmenau, Faculty of Mechanical Engineering. [Hrsg.: Peter Scharff]
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Metrologisches Rasterkraftmikroskop:
, In:Copies:
Zentrale:Magazin 01.r.4949
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Mechanical engineering from macro to nano / Technische Universität Ilmenau, Faculty of Mechanical Engineering. [Hrsg.: Peter Scharff]
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Nanomesssysteme für Nanopositioniersysteme:
, In:Copies:
Zentrale:Magazin 01.r.4949
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Technisches Messen
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Entwicklung eines Fokussensors und Integration in die Nanop..:
, In:Copies: Zentrale;
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Actuator 2004 / editor Hubert Borgmann
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Control system of a nanopositioning and nanomeasuring machi..:
, In:Copies:
Zentrale:Magazinturm E01 tr 8185
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Proceedings of the 5th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods / Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Fertigungsmesstechnik. Klaus Hasche ...
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A new tool for the calibration of scanning probe microscope:
, In:Copies:
Zentrale:Magazin bc 1165-44
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Technisches Messen
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Untersuchungen zur gleichzeitigen Längen- und Winkelmessun..:
, In:Copies: Zentrale;