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Daehn, Wilfried
16  results:
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1

Temporale Prüfung von Software-Funktionen:

Schulze, Andreas , 2011
Link: https://nbn-resolving.de..
 
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2

Laufzeitbestimmung von Fahrzeugfunktionen im Motorsteuerger..:

, In: Moderne Elektronik im Kraftfahrzeug / Bernard Bäker (Hrsg.) und 62 Mitautoren
Schulze, Andreas ; Wolf, Fabian ; Daehn, Wilfried. (2006)  - p. 111-125
Copies:  TB BHV: ver 70/38-1; Zentrale:E02 a ing 567.6 i/675
 
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3

Testverfahren in der Mikroelektronik 

Methoden und Werkzeuge  Springer eBook Collection, Computer Science and Engineering
Daehn, Wilfried , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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4

Testverfahren in der Mikroelektronik 

Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen  Mikroelektronik
Daehn, Wilfried , 1997
Copies:  Zentrale:E02 a elt 699 s/550
 
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5

Testmusterberechnung:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 27-68 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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6

Fehlersimulation:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 69-91 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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7

Testfreundlicher Entwurf:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 125-141 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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8

Fehlermodelle:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 11-26 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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9

Einführung und Abgrenzung:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 1-9 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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10

Selbsttest integrierter Schaltungen:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 143-200 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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11

Testbarkeitsanalyse:

, In: Testverfahren in der Mikroelektronik; Mikroelektronik,
Daehn, Wilfried - p. 93-124 , 1997
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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12

Electrosmog & electromagnetic CAD:

Daehn, Wilfried
Future Generation Computer Systems.  11 (1995)  4-5 - p. 439-444 , 1995
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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13

Fault modeling of differential ECL:

, In: Proceedings of the conference on European design automation,
Jorczyk, Udo ; Daehn, Wilfried ; Neumann, Oliver - p. 190-195 , 1995
Link: https://dl.acm.org/doi/1..
 
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14

Distributed simulation for structural VHDL netlists:

, In: Proceedings of the conference on European design automation,
Bernstein, David B. ; van Almsick, Werner ; Daehn, Wilfried - p. 598-603 , 1994
Link: https://dl.acm.org/doi/1..
 
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15

Fault simulation using small fault samples:

Daehn, Wilfried
Journal of Electronic Testing.  2 (1991)  2 - p. 191-203 , 1991
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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