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1

Schuldrecht 2

, In: Bürgerliches Gesetzbuch : mit Einführungsgesetz und Nebengesetzen / begr. von Hs. Th. Soergel. Neu hrsg. von W. Siebert ...
Bd. 3,

(§§ 433 - 515) : AGB-Gesetz, AbzG, EAG, EKG, UN-KaufAbk Kohlhammer-Kommentar

Mertens, Hans-Joachim ; Soergel, Hans Theodor ; Siebert, Wolfgang - 12., neubearb. Aufl., Stand: Frühjahr 1991 . , 1991

Copies: Juridicum; BB Nat.-NW 1;

2

Schuldrecht 1

, In: Bürgerliches Gesetzbuch : mit Einführungsgesetz und Nebengesetzen / begr. von Hs. Th. Soergel. Neu hrsg. von W. Siebert ...
Bd. 2,

(§§ 241 - 432) Kohlhammer-Kommentar

Mertens, Hans-Joachim ; Soergel, Hans Theodor ; Siebert, Wolfgang - 12., neubearb. Aufl., Stand: Juli 1990 . , 1990

Copies: Juridicum; BB Nat.-NW 1;

3

§§ 433 - 515, AGB-Gesetz, AbzG, EKG, EKAG

Schuldrecht I2:

, In: , In: Bürgerliches Gesetzbuch : mit Einführungsgesetz und Nebengesetzen / begr. von Hs. Th. Soergel. Neu hrsg. von W. Siebert,

Kohlhammer-Kommentar

Mertens, Hans-Joachim ; Soergel, Hans Theodor ; Siebert, Wolfgang - 11., neubearb. Aufl., Stand: Frühjahr 1986 . , 1986

Copies: Zentrale:Magazin 01.j.8683-2,2

4

§§ 241 - 432

Schuldrecht I1:

, In: , In: Bürgerliches Gesetzbuch : mit Einführungsgesetz und Nebengesetzen / begr. von Hs. Th. Soergel. Neu hrsg. von W. Siebert,

Kohlhammer-Kommentar

Mertens, Hans-Joachim ; Soergel, Hans Theodor ; Siebert, Wolfgang - 11., neubearb. Aufl., Stand: Frühjahr 1986 . , 1986

Copies: Zentrale:Magazin 01.j.8683-2,1

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Taming the Distribution of Light in Gate-All-Around Semicon..:

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6

Reference-free x-ray fluorescence analysis with a micromete..:

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7

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Mertens, Hans
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8

Investigating Nanowire, Nanosheet and Forksheet FET Hot-Car..:

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Vandemaele, Michiel ; Kaczer, Ben ; Bury, Erik... - p. 1-10 , 2023

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9

CFET SRAM With Double-Sided Interconnect Design and DTCO Be..:

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Link: https://doi.org/10.1109/..

10

The Low-Frequency Noise Behavior of Advanced Logic and Memo..:

, In: 2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC),

Simoen, Eddy ; Ritzenthaler, Romain ; Mertens, Hans... - p. 1-4 , 2022

Link: https://doi.org/10.1109/..

11

Properties of Selectively Grown Si:P Layers below 500°C for..:

Rosseel, Erik ; Porret, Clement ; Hikavyy, Andriy Yakovitch...
ECS Transactions. 109 (2022) 4 - p. 93-98 , 2022

Link: https://doi.org/10.1149/..

12

The properties, effect and extraction of localized defect p..:

, In: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),

Vandemaele, Michiel ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav... - p. 1-7 , 2021

Link: https://doi.org/10.1109/..

13

Low frequency noise performance of horizontal, stacked and ..:

Simoen, Eddy ; de Oliveira, Alberto Vinicius ; Agopian, Paula Ghedini Der...
Solid-State Electronics. 184 (2021) - p. 108087 , 2021

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14

Scaling of double-gated WS2 FETs to sub-5nm physical gate l..:

, In: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),

Smets, Quentin ; Schram, Tom ; Verreck, Devin... - p. 34.2.1-34.2.4 , 2021

Link: https://doi.org/10.1109/..

15

Impact of Gate Stack Layer Composition on Dynamic Threshold..:

Oliveira, Alberto V. ; Agopian, Paula Ghedini Der ; Martino, João Antonio...
Journal of Integrated Circuits and Systems. 11 (2020) 1 - p. 7-12 , 2020

Link: https://doi.org/10.29292..