Sprenger, Alexander
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Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von U.. 

von Alexander Sprenger ; Erster Gutachter: Prof. Dr. Sybill... 
 
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Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects:

, In: 2020 IEEE International Test Conference (ITC),
 
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Variation-Aware Test for Logic Interconnects using Neural N..:

, In: 2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT),
 
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Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von U..:

Sprenger, Alexander
vignette : https://digital.ub.uni-paderborn.de/titlepage/urn/urn:nbn:de:hbz:466:2-45493/128.  , 2023
 
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