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2024 36th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) ,
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Gate Switching Instability of SiC MOSFETs under Simultaneou..:
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2021 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) ,
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Gate Oxide Reliability of 1.2 kV and 6.5 kV SiC MOSFETs und..:
, In:
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Kämpfen-lernen als Gelegenheit zur Gewaltprävention?! / herausgegeben von Harald Lange und Thomas Leffler
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Ringen
, In:Zweikämpfe pädagogisch nutzen
Copies:
Zentrale:E03 a pae 503 z/799(2)