E-LIB Suche - Ergebnisse für: da Silva, Maurício Banaszeski

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Random Telegraph Noise in Analog CMOS Circuits:

da Silva, Mauricio Banaszeski ; Wirth, Gilson I. ; Tuinhout, Hans P...
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers. 70 (2023) 6 - p. 2229-2242 , 2023

Link: https://doi.org/10.1109/..

2

Random Telegraph Noise Modeling for Circuit Analysis: RTN i..:

da Silva, Mauricio Banaszeski ; Both, Thiago H. ; Wirth, Gilson I.
IEEE Journal of the Electron Devices Society. 10 (2022) - p. 459-465 , 2022

Link: https://doi.org/10.1109/..

3

An Overview on Statistical Modeling of Random Telegraph Noi..:

, In: Noise in Nanoscale Semiconductor Devices,

Both, Thiago H. ; da Silva, Maurício Banaszeski ; Wirth, Gilson I.... - p. 495-516 , 2020

Link: https://doi.org/10.1007/..

4

Modeling the impact of RTS on the reliability of ring oscil..:

, In: Proceedings of the 23rd symposium on Integrated circuits and system design,

Banaszeski da Silva, Maurício ; Wirth, Gilson - p. 128-133 , 2010

Link: https://dl.acm.org/doi/1..

5

Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do ef..:

Silva, Maurício Banaszeski da
http://hdl.handle.net/10183/147989. , 2016

Link: http://hdl.handle.net/10..

6

A physics-based statistical random telegraph noise model ; ..:

Silva, Maurício Banaszeski da
http://hdl.handle.net/10183/150171. , 2016

Link: http://hdl.handle.net/10..

7

Ruído RTS em osciladores em anel:

Silva, Maurício Banaszeski da
http://hdl.handle.net/10183/24340. , 2009

Link: http://hdl.handle.net/10..

8

Ruído RTS em osciladores em anel:

Silva, Maurício Banaszeski da
http://hdl.handle.net/10183/24340. , 2009

Link: http://hdl.handle.net/10..

9

O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritmético:

Silva, Maurício Banaszeski da ; Camargo, Vinicius Valduga de Almeida ; Brusamarello, Lucas
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.. , 2008

Link: http://hdl.handle.net/10..

10

Método numérico para a modelagem de variações de processo e..:

Camargo, Vinícius Valduga de Almeida ; Silva, Maurício Banaszeski da ; Brusamarello, Lucas
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.. , 2008

Link: http://hdl.handle.net/10..

11

O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritmético:

Silva, Maurício Banaszeski da ; Camargo, Vinicius Valduga de Almeida ; Brusamarello, Lucas
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.. , 2008

Link: http://hdl.handle.net/10..

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Método numérico para a modelagem de variações de processo e..:

Camargo, Vinícius Valduga de Almeida ; Silva, Maurício Banaszeski da ; Brusamarello, Lucas
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.. , 2008

Link: http://hdl.handle.net/10..

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Random Telegraph Noise Modeling for Circuit Analysis: RTN i..:

Mauricio Banaszeski da Silva ; Thiago H. Both ; Gilson I. Wirth
https://ieeexplore.ieee.org/document/9695958/. , 2022

Link: https://doi.org/10.1109/..

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Dermatoscopic aspects of the Microphthalmia with Linear Ski..:

Almeida Jr., Hiram Larangeira de ; Rossi, Gabriela ; Abreu, Luciana Boff de...
Anais Brasileiros de Dermatologia. 89 (2014) 1 - p. 180-181 , 2014

Link: https://doi.org/10.1590/..