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Optimalbildbestimmung bei elektronenmikroskopischen Fokusse..
Entwicklung eines rechnergesteuerten Schnellverfahrens
Minerva-Fachserie Technik
Copies: Zentrale;
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Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie fester Stoffe
Werkstoffe ; 1
Copies:
:TB Technik k 168/477; Zentrale:Magazin 01.j.3551
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