Titel

Merkliste
1 Ergebnisse

Etude des structures MIS sur InP réalisées avec une double ..:

Jalaguier, E ; Joseph, J ; Robach, Y..
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1051/rphysap:01987002208088500. , 1987

Link: https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00245628

RT Journal
T1 <Title>Etude des structures MIS sur InP réalisées avec une double couche anodique</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=base-ftccsdartic:oai:HAL:jpa-00245628v1&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Jalaguier, E
A1 Joseph, J
A1 Robach, Y
A1 Bergignat, E
A1 Hollinger, G
PB HAL CCSD; Société française de physique / EDP
YR 1987
K1 anodised layers
K1 III V semiconductors
K1 indium compounds
K1 metal insulator semiconductor structures
K1 X ray photoelectron spectra
K1 semiconductor
K1 native oxide
K1 MISFET
K1 capacitance voltage measurements
K1 MIS structures
K1 anodic double layers
K1 gate insulator
K1 chemical composition
K1 ellipsometry
K1 XPS
K1 electrical properties
K1 interface
K1 InP In PO sub 3 sub 3 Al sub 2 O sub 3
K1 [PHYS.HIST]Physics [physics]/Physics archives
JF info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1051/rphysap:01987002208088500
LK http://dx.doi.org/https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00245628
DO https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00245628
SF ELIB - SuUB Bremen

Export

RefWorks (nur Desktop-Version!)
Flow (Zuerst in Flow einloggen, dann importieren)