I agree that this site is using cookies. You can find further informations
here
.
X
Login
Merkliste (
0
)
Home
About us
Home About us
Our history
Profile
Press & public relations
Friends
The library in figures
Exhibitions
Projects
Training, internships, careers
Films
Services & Information
Home Services & Information
Lending and interlibrary loans
Returns and renewals
Training and library tours
My Account
Library cards
New to the library?
Download Information
Opening hours
Learning spaces
PC, WLAN, copy, scan and print
Catalogs and collections
Home Catalogs and Collections
Rare books and manuscripts
Digital collections
Subject Areas
Our sites
Home Our sites
Central Library
Law Library (Juridicum)
BB Business and Economics (BB11)
BB Physics and Electrical Engineering
TB Engineering and Social Sciences
TB Economics and Nautical Sciences
TB Music
TB Art & Design
TB Bremerhaven
Contact the library
Home Contact the library
Staff Directory
Open access & publishing
Home Open access & publishing
Reference management: Citavi & RefWorks
Publishing documents
Open Access in Bremen
zur Desktop-Version
Toggle navigation
Merkliste
1 Ergebnisse
1
Caracterización de la profundidad de fase en materiales de ..:
Márquez Ruiz, Andrés
;
Beléndez Vázquez, Augusto
;
Campos Coloma, Juan
...
MÁRQUEZ RUIZ, Andrés, et al. "Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico". En: Actas de la VI Reunión Nacional de Óptica : 19-22 de Septiembre 2000, Medina del Campo. Valladolid : Universidad de Valladolid, 2000, pp. 437-438. , 2000
Link:
http://hdl.handle.net/10045/9484
RT Journal T1 <Title>Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico</Title> UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=base-ftunivalicante:oai:rua.ua.es:10045_9484&Exemplar=1&LAN=DE A1 Márquez Ruiz, Andrés A1 Beléndez Vázquez, Augusto A1 Campos Coloma, Juan A1 Pascual Villalobos, Inmaculada A1 Yzuel Giménez, María Josefa A1 Fimia Gil, Antonio PB Sociedad Española de Óptica; Universidad de Valladolid YR 2000 K1 Holography K1 Holographic recording materials K1 Holographic gratings K1 Óptica K1 Física Aplicada JF MÁRQUEZ RUIZ, Andrés, et al. "Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico". En: Actas de la VI Reunión Nacional de Óptica : 19-22 de Septiembre 2000, Medina del Campo. Valladolid : Universidad de Valladolid, 2000, pp. 437-438 LK http://hdl.handle.net/10045/9484 DO http://hdl.handle.net/10045/9484 SF ELIB - SuUB Bremen
Export
RefWorks (nur Desktop-Version!)
Flow
(Zuerst in
Flow
einloggen, dann importieren)
