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Impact of low-dose electron irradiation on n+p silicon stri..:

Adam, W ; Bergauer, T ; Dragicevic, M...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000363464600014. , 2015

Link: http://hdl.handle.net/11379/481339

RT Journal
T1 <Title>Impact of low-dose electron irradiation on n+p silicon strip sensors</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=base-ftunivbrescia:oai:iris.unibs.it:11379_481339&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Adam, W
A1 Bergauer, T
A1 Dragicevic, M
A1 Friedl, M
A1 Fruehwirth, R
A1 Hoch, M
A1 Hrubec, J
A1 Krammer, M
A1 Treberspurg, W
A1 Waltenberger, W
A1 Alderweireldt, S
A1 Beaumont, W
A1 Janssen, X
A1 Luyckx, S
A1 Van Mechelen, P
A1 Van Remortel, N
A1 Van Spilbeeck, A
A1 Barria, P
A1 Caillol, C
A1 Clerbaux, B
A1 De Lentdecker, G
A1 Dobur, D
A1 Favart, L
A1 Grebenyuk, A
A1 Lenzi, T.h
A1 Léonard, A
A1 Maerschalk, T.h
A1 Mohammadi, A
A1 Perniè, L
A1 Randle Conde, A
A1 Reis, T
A1 Seva, T
A1 Thomas, L
A1 Vander Velde, C
A1 Vanlaer, P
A1 Wang, J
A1 Zenoni, F
A1 Abu Zeid, S
A1 Blekman, F
A1 De Bruyn, I
A1 D'Hondt, J
A1 Daci, N
A1 Deroover, K
A1 Heracleous, N
A1 Keaveney, J
A1 Lowette, S
A1 Moreels, L
A1 Olbrechts, A
A1 Python, Q
A1 Tavernier, S
A1 Van Mulders, P
A1 Van Onsem, G
A1 Van Parijs, I
A1 Strom, D. A
A1 Basegmez, S
A1 Bruno, G
A1 Castello, R
A1 Caudron, A
A1 Ceard, L
A1 De Callatay, B
A1 Delaere, C
A1 Du Pree, T
A1 Forthomme, L
A1 Giammanco, A
A1 Hollar, J
A1 Jez, P
A1 Michotte, D
A1 Nuttens, C
A1 Perrini, L
A1 Quertenmont, L
A1 Selvaggi, M
A1 Vidal Marono, M
A1 Beliy, N
A1 Caebergs, T
A1 Daubie, E
A1 Hammad, G. H
A1 Härkönen, J
A1 Lampén, T
A1 Luukka, P. R
A1 Mäenpää, T
A1 Peltola, T
A1 Tuominen, E
A1 Tuovinen, E
A1 Eerola, P
A1 Tuuva, T
A1 Beaulieu, G
A1 Boudoul, G
A1 Combaret, C
A1 Contardo, D
A1 Gallbit, G
A1 Lumb, N
A1 Mathez, H
A1 Mirabito, L
A1 Perries, S
A1 Sabes, D
A1 Vander Donckt, M
A1 Verdier, P
A1 Viret, S
A1 Zoccarato, Y
A1 Agram, J. L
A1 Conte, E
A1 Fontaine, J. C.h
A1 Andrea, J
A1 Bloch, D
A1 Bonnin, C
A1 Brom, J. M
A1 Chabert, E
A1 Charles, L
A1 Goetzmann, C.h
A1 Gross, L
A1 Hosselet, J
A1 Mathieu, C
A1 Richer, M
A1 Skovpen, K
A1 Autermann, C
A1 Edelhoff, M
A1 Esser, H
A1 Feld, L
A1 Karpinski, W
A1 Klein, K
A1 Lipinski, M
A1 Ostapchuk, A
A1 Pierschel, G
A1 Preuten, M
A1 Raupach, F
A1 Sammet, J
A1 Schael, S
A1 Schwering, G
A1 Wittmer, B
A1 Wlochal, M
A1 Zhukov, V
A1 Pistone, C
A1 Fluegge, G
A1 Kuensken, A
A1 Geisler, M
A1 Pooth, O
A1 Stahl, A
A1 Bartosik, N
A1 Behr, J
A1 Burgmeier, A
A1 Calligaris, L
A1 Dolinska, G
A1 Eckerlin, G
A1 Eckstein, D
A1 Eichhorn, T
A1 Fluke, G
A1 Garay Garcia, J
A1 Gizhko, A
A1 Hansen, K
A1 Harb, A
A1 Hauk, J
A1 Kalogeropoulos, A
A1 Kleinwort, C
A1 Korol, I
A1 Lange, W
A1 Lohmann, W
A1 Mankel, R
A1 Maser, H
A1 Mittag, G
A1 Muhl, C
A1 Mussgiller, A
A1 Nayak, A
A1 Ntomari, E
A1 Perrey, H
A1 Pitzl, D
A1 Schroeder, M
A1 Seitz, C
A1 Spannagel, S
A1 Zuber, A
A1 Biskop, H
A1 Blobel, V
A1 Buhmann, P
A1 Centis Vignali, M
A1 Draeger, A. R
A1 Erfle, J
A1 Fretwurst, E
A1 Garutti, E
A1 Haller, J
A1 Henkel, C.h
A1 Hoffmann, M
A1 Junkes, A
A1 Klanner, R
A1 Lapsien, T
A1 Mättig, S
A1 Matysek, M
A1 Perieanu, A
A1 Poehlsen, J
A1 Poehlsen, T
A1 Scharf, C.h
A1 Schleper, P
A1 Schmidt, A
A1 Schuwalow, S
A1 Schwandt, J
A1 Sola, V
A1 Steinbrück, G
A1 Vormwald, B
A1 Wellhausen, J
A1 Barvich, T
A1 Barth, C.h
A1 Boegelspacher, F
YR 2015
K1 Charge collection
K1 Radiation damage
K1 Silicon strip sensor
K1 Surface damage
K1 Instrumentation
K1 Nuclear and High Energy Physics
JF info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000363464600014
LK http://hdl.handle.net/11379/481339
DO http://hdl.handle.net/11379/481339
SF ELIB - SuUB Bremen

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