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Selection of the silicon sensor thickness for the Phase-2 u..:

Adam W ; Bergauer T ; Bloch D...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000755334500028. , 2021

Link: https://hdl.handle.net/11568/1134054

RT Journal
T1 <Title>Selection of the silicon sensor thickness for the Phase-2 upgrade of the CMS Outer Tracker</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=base-ftunivpisairis:oai:arpi.unipi.it:11568_1134054&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Adam W
A1 Bergauer T
A1 Bloch D
A1 Dragicevic M
A1 Fruhwirth R
A1 Hinger V
A1 Steininger H
A1 Beaumont W
A1 Di Croce D
A1 Janssen X
A1 Kello T
A1 Lelek A
A1 Van Mechelen P
A1 Van Putte S
A1 Van Remortel N
A1 Blekman F
A1 Delcourt M
A1 D'Hondt J
A1 Lowette S
A1 Moortgat S
A1 Morton A
A1 Muller D
A1 Sahasransu A. R
A1 Sorensen Bols E
A1 Allard Y
A1 Beghin D
A1 Bilin B
A1 Clerbaux B
A1 De Lentdecker G
A1 Deng W
A1 Favart L
A1 Grebenyuk A
A1 Hohov D
A1 Kalsi A
A1 Khalilzadeh A
A1 Mahdavikhorrami M
A1 Makarenko I
A1 Moureaux L
A1 Popov A
A1 Postiau N
A1 Robert F
A1 Song Z
A1 Thomas L
A1 Vanlaer P
A1 Vannerom D
A1 Wang Q
A1 Wang H
A1 Yang Y
A1 Bethani A
A1 Bruno G
A1 Bury F
A1 Caputo C
A1 David P
A1 Deblaere A
A1 Delaere C
A1 Donertas I. S
A1 Giammanco A
A1 Lemaitre V
A1 Mondal K
A1 Prisciandaro J
A1 Szilasi N
A1 Taliercio A
A1 Teklishyn M
A1 Vischia P
A1 Wertz S
A1 Brigljevic V
A1 Ferencek D
A1 Majumder D
A1 Mishra S
A1 Roguljic M
A1 Starodumov A
A1 Susa T
A1 Eerola P
A1 Brucken E
A1 Lampen T
A1 Martikainen L
A1 Tuominen E
A1 Luukka P
A1 Tuuva T
A1 Agram J. -L
A1 Andrea J
A1 Apparu D
A1 Bonnin C
A1 Bourgatte G
A1 Brom J. -M
A1 Chabert E
A1 Charles L
A1 Collard C
A1 Dangelser E
A1 Darej D
A1 Goerlach U
A1 Grimault C
A1 Gross L
A1 Haas C
A1 Krauth M
A1 Nibigira E
A1 Ollivier-Henry N
A1 Silva Jimenez E
A1 Asilar E
A1 Baulieu G
A1 Boudoul G
A1 Caponetto L
A1 Chanon N
A1 Contardo D
A1 Dene P
A1 Dupasquier T
A1 Galbit G
A1 Jain S
A1 Lumb N
A1 Mirabito L
A1 Nodari B
A1 Perries S
A1 Vander Donckt M
A1 Viret S
A1 Botta V
A1 Feld L
A1 Karpinski W
A1 Klein K
A1 Lipinski M
A1 Louis D
A1 Meuser D
A1 Pauls A
A1 Pierschel G
A1 Rauch M
A1 Rowert N
A1 Schulz J
A1 Teroerde M
A1 Wlochal M
A1 Dziwok C
A1 Fluegge G
A1 Pooth O
A1 Stahl A
A1 Ziemons T
A1 Cheng C
A1 Connor P
A1 De Wit A
A1 Eckerlin G
A1 Eckstein D
A1 Gallo E
A1 Guthoff M
A1 Harb A
A1 Kleinwort C
A1 Mankel R
A1 Maser H
A1 Meyer M
A1 Muhl C
A1 Mussgiller A
A1 Otarid Y
A1 Pitzl D
A1 Reichelt O
A1 Savitskyi M
A1 Stever R
A1 Tonon N
A1 Velyka A
A1 Walsh R
A1 Zuber A
A1 Abbas M
A1 Ardila L
A1 Balzer M
A1 Barvich T
A1 Blank T
A1 Butz E
A1 Caselle M
A1 De Boer W
A1 Dierlamm A
A1 Droll A
A1 Elicabuk U
A1 El Morabit K
A1 Hartmann F
A1 Husemann U
A1 Koppenhofer R
A1 Maier S
A1 Mallows S
A1 Mehner T
A1 Metzler M
A1 Modes J
A1 Muller-Gosewisch J. -O
A1 Muller T
A1 Neufeld M
A1 Nurnberg A
A1 Sander O
A1 Schell D
A1 Schroder M
A1 Shvetsov I
A1 Simonis H. J
A1 Stanulla J
A1 Steck P
A1 Wassmer M
A1 Weber M
A1 Weddigen A
A1 Wittig F
A1 Anagnostou G
A1 Assiouras P
A1 Daskalakis G
A1 Kazas I
A1 Kyriakis A
A1 Loukas D
A1 Balazs T
A1 Marton K
A1 Sikler F
YR 2021
K1 Particle tracking detectors (Solid-state detectors)
K1 Radiation damage to detector materials (solid state)
K1 Radiation-hard detector
K1 Si microstrip and pad detectors
JF info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000755334500028
LK http://dx.doi.org/https://hdl.handle.net/11568/1134054
DO https://hdl.handle.net/11568/1134054
SF ELIB - SuUB Bremen

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