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Scanning Thermal Profiler:

, In: Encyclopedia of Nanotechnology,

Zhu, Yimei ; Inada, Hiromi ; Hartschuh, Achim... - p. 2301-2301 , 2012

Link: https://doi.org/10.1007/978-90-481-9751-4_100728

RT 
T1 <cTitle>Encyclopedia of Nanotechnology</cTitle>: T1 <Title>Scanning Thermal Profiler</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=cr-10.1007_978-90-481-9751-4_100728&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Zhu, Yimei
A1 Inada, Hiromi
A1 Hartschuh, Achim
A1 Shi, Li
A1 Della Pia, Ada
A1 Costantini, Giovanni
A1 Vázquez de Parga, Amadeo L.
A1 Miranda, Rodolfo
A1 Barbier, Antoine
A1 Mocuta, Cristian
A1 Belkhou, Rachid
A1 Bhushan, Bharat
A1 Hoo, J. H.
A1 Park, K. S.
A1 Baskaran, R.
A1 Böhringer, K. F.
A1 Lu, Wei
A1 Nosonovsky, Michael
A1 Ham, Moon-Ho
A1 Boghossian, Ardemis A.
A1 Choi, Jong Hyun
A1 Strano, Michael S.
A1 Lang, Amy
A1 Habegger, Maria Laura
A1 Motta, Philip
A1 Bhushan, Bharat
A1 Bachmann, Thomas
A1 Wagner, Hermann
A1 Brenner, Donald W.
A1 Chen, Jian
A1 Shakiba, Nika
A1 Tan, Qingyuan
A1 Sun, Yu
A1 Greer, Julia R.
A1 Laver, M.
A1 Khaled, S. M.
A1 Parodi, Alessandro
A1 Tasciotti, Ennio
A1 Dave, Bakul C.
A1 Lockwood, Sarah B.
A1 Musicanti, Claudia
A1 Gasco, Paolo
A1 Vollrath, Fritz
A1 Booth, Alexander
A1 McIntosh, Andy C.
A1 Beheshti, Novid
A1 Walker, Richard
A1 Larsson, Lars Uno
A1 Copestake, Andrew
A1 Hwang, Hyundoo
A1 Cho, Yoon-Kyoung
A1 Chen, Jian
A1 Chu, Michael
A1 Gordijo, Claudia R.
A1 Wu, Xiao Yu
A1 Sun, Yu
A1 Kolle, Mathias
A1 Steiner, Ullrich
A1 Wang, Szu-Wen
A1 Ceyssens, Frederik
A1 Puers, Robert
A1 Han, Xiaodong
A1 Mao, Shengcheng
A1 Zhang, Ze
A1 Jiang, Lei
A1 Lin, Ling
A1 Ragan, Regina
A1 Lughi, Vanni
A1 Drummond, Carlos
A1 Ruths, Marina
A1 Mu, Weiqiang
A1 Ketterson, John B.
A1 Berini, Pierre
A1 Zhao, Ya-Pu
A1 Wang, Feng-Chao
A1 Prakash, Shaurya
A1 Henley, Simon J.
A1 Anguita, José V.
A1 Silva, S. Ravi P.
A1 Chanana, Munish
A1 Mateo, Cintia
A1 Salgueirino, Verónica
A1 Correa-Duarte, Miguel A.
A1 Kar, Swastik
A1 Talapatra, Saikat
A1 Calvo Fuentes, Javier
A1 Rivas, José
A1 López-Quintela, M. Arturo
A1 Tsuda, Soichiro
PB Springer Netherlands
YR 2012
SP 2301
OP 2301
LK http://dx.doi.org/https://doi.org/10.1007/978-90-481-9751-4_100728
DO https://doi.org/10.1007/978-90-481-9751-4_100728
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